中古 TKK MAC-92MV1 #9399119 を販売中

TKK MAC-92MV1
ID: 9399119
Overlay measurement systems.
TKK MAC-92MV1は、半導体の製造に使用されるマスクおよびウェハ検査装置です。半導体マスクやウェーハの欠陥や欠陥を特定、分析、診断するために使用されます。このシステムは、最高品質の基準を満たしながら、生産時間とコストを削減するように設計されています。この革新的なユニットには、高度なアルゴリズム、精密光学、高解像度カメラが装備されています。超高速画像を撮影し、様々な基板のパターン、構造、欠陥を詳細に解析することができます。MAC-92MV1はレーザー干渉計を使用して、マスクやウェーハの不規則性を検出します。これらの測定は、欠陥を識別するために使用されるデータを提供します。ウェーハ、粒子、粒子汚染の材料組成も評価します。TKK MAC-92MV1が使用する強力なソフトウェアは、ウェーハの複数の層の詳細なデータ分析を可能にします。このツールは、ピンホール、ボイド、ライン幅などの欠陥を自動的に認識して検査することができます。また、肉眼ではなかなか見えない不具合を検出することができます。アセットには直感的なユーザーインターフェイスが装備されており、迅速かつ効果的な欠陥検出を可能にします。ユーザーは報告のための特徴そしてデータに容易にアクセスできます。これにより、加工されたマスクやウェーハの品質に関する迅速かつ包括的なフィードバックが可能になります。MAC-92MV1は、高度な光学および精密イメージング技術を組み合わせ、現在市販されている最先端のマスクおよびウェーハ検査を提供します。生産時間、コストを削減し、製品の品質を向上させるように設計されています。このモデルは、半導体の製造プロセスにおいて貴重なツールであり、あらゆる半導体製造業界にとって信頼できる選択肢です。
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