中古 TKK MAC-110MV1 #9375010 を販売中

TKK MAC-110MV1
ID: 9375010
Overlay measurement systems.
TKK MAC-110MV1は、エレクトロニクス製造およびマイクロマシニングにおける品質管理を提供するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。電子部品を内蔵したデバイス、フォトマスク、半導体ウェーハなど、幅広い用途に使用できる汎用性の高いツールです。光学式と機械式の両方を組み合わせ、正確で信頼性の高い検査を実現します。このユニットには高解像度カメラとビジョンマシンが搭載されており、生成された画像は強力な画像処理ソフトウェアによって処理され、迅速かつ正確に問題を検出します。可変倍率により、ナノメートル程度の小さい特徴を検査することができます。また、ステージキャリブレーション、歪み補正、自動アライメントも自動化されています。MAC-110MV1は、5Xから1000Xまでの複数のデジタルおよびアナログ倍率を備えています。これは、ウェーハまたはカプセル化された表面上の最小かつ最も複雑な機能でもキャプチャするのに役立ちます。さらに、調整可能なショットアライメント方法は、各画像を正確に整列させ、正確な画像キャプチャを保証するのに役立ちます。このアセットは、複数の品質管理要件を満たすように設計されたさまざまな画像モードも提供しています。これらの画像モードには、フィルムパターン、金属化深度、表面分離、および機能層解析が含まれます。このモデルは信頼性が高く、簡単な操作のためにタッチスクリーンと電極に敏感な表面を使用しています。さらに、最先端の光学および機械部品は、高精度の結果を提供します。最後に、機器は他の分析システムと共有できる統合ライブラリで設計されており、結果の互換性を保証します。結論として、TKK MAC-110MV1は、品質管理と検査のための包括的なシステムを提供し、デバイスや微細加工アプリケーションの広い範囲に最適です。単位の高度の光学および機械部品およびカスタマイズ可能なイメージ・モードは最小の努力の精密で、信頼できる点検を保証します。
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