中古 TAYLOR HOBSON PGI 840 #9412072 を販売中

TAYLOR HOBSON PGI 840マスクおよびウェーハ検査装置は、マスクおよびウェーハ検査用に特別に設計された超精密な検査およびマッピングシステムです。検査機能を強化し、他の機器では実現できない高解像度・高精度を実現しています。さらに、PGI 840には業界をリードする検出機能があり、エラーを迅速に特定して軽減することができます。特殊光学系とガルバノメーターベースの多軸スキャンの組み合わせにより、測定プロセス全体で最高の精度と精度を保証します。さらに、その高度なソフトウェアは、高速スキャン、高速データキャプチャ、および最小の異常を検出するための高精度をユーザーに提供します。このユニットには、レトロ反射型（Schmidt-type）や入射光集積、高水接触プローブ、レーザービーム、その他の光学系などのアプリケーション固有の要件に適合するさまざまなスコープとプローブが含まれています。センサは独自の光学設計を使用して、小さな距離をスキャンして基板の地形の微妙な変化を検出して測定します。TAYLOR HOBSON PGI 840は、データ処理と分析に最新のデジタル技術を使用しています。画像処理とデジタル信号処理アルゴリズムを組み合わせることで、不等式、深さ、粗さなどの特徴を正確に検出することができます。さらに、このツールは、幅広い基板パラメータを測定し、高精度で一貫性のあるマッピングを行うように設計することができます。PGI 840は欠陥率を減らし、歩留まり率を改善するように設計されています。マスクやウェーハの検査に必要な比類のないレベルの精度と、高速なデータ処理プロトコル、カスタマイズ可能なユーザーフレンドリーなインターフェースを提供します。その強力な検査機能、自動運転、包括的なデータ分析機能により、チップ製造、回路基板試験、半導体製造などのさまざまなアプリケーションで使用できます。TAYLOR HOBSON PGI 840は、マスクやウェーハの検査に便利な汎用性の高いアセットです。優れた解像度、検出機能の強化、迅速なスキャン、迅速なデータキャプチャ、攻撃的な基板パラメータ測定のための高度なソフトウェアを提供します。また、基板トポグラフィの微妙な変化を検出し、高精度で一貫性のあるさまざまなパラメータを測定するための強力なデジタル画像処理アルゴリズムを備えています。これらの部品を組み合わせることで、マスクやウェーハの検査に最適な信頼性の高い機器となります。