中古 TAYLOR HOBSON PGI 840 #9397839 を販売中

TAYLOR HOBSON PGI 840は、半導体ウェーハおよびマスクの欠陥を検出するために設計された高度な自動マスクおよびウェーハ検査装置です。直径200mmまでのウェーハ、8インチまでのマスクの検査が可能です。PGI 840は、検査プロセスの精度と信頼性を確保するように設計された完全自動制御ユニットとカスタマイズされたソフトウェアパッケージを備えています。それに特定の顧客の要求を満たすためにカスタマイズすることができる複数の点検モードおよびさまざまな設定があります。強力なレンズツールを使用して、ウェーハやマスクの欠陥を検査します。レンズアセットは、0。1ミクロン以下のサイズの欠陥を検出することができます。その後、ウェーハとマスク画像を大型イメージモニターに転送し、レビューと分析を行うことができます。TAYLOR HOBSON PGI 840は、欠陥タイプとサイズを正確に分類できる強力な欠陥分類モデルも備えています。この機能により、より効率的で正確な検査プロセスが可能になります。この装置はまた、欠陥の検出と分析に役立つ欠陥タイプとサイズの広範なデータベースを備えています。このデータベースは、実験を開発し、特定のプロセスや手順の指示を標準化するためにも使用できます。検査機能に加えて、PGI 840は様々な分析機能も提供しています。このシステムは、ギャップ測定やダイ境界スキャン、均一性欠陥の検出、欠陥分布の解析が可能です。TAYLOR HOBSON PGI 840は、高精度で信頼性の高い検査プロセスを提供するように設計された高度なマスクおよびウェーハ検査ユニットです。その幅広い機能と機能は、自動検査機を探している半導体企業にとって理想的な選択肢です。