中古 SONY IRG-12 #9211055 を販売中

SONY IRG-12は、半導体業界で活用されているマスクやウェーハの欠陥、汚染、異常を検査するマスク・ウェーハ検査装置です。最先端の光学技術と画像処理技術を組み合わせて、幾何学的形状とパターン特性に関する欠陥を検出します。また、デバイス特性の測定や画像の生成も可能です。単位は精密光学部品、光源、目的およびイメージセンサー、表示装置およびイメージプロセッサから成っています。光学は最もよいイメージ投射のための広いn。a。（数値開き）の同軸ズームレンズ、また長い作動距離/長い作動距離の目的のペアから成っています。光学系と組み合わせて使用される光源は二色放電ランプです。可視域では最大24の相関周波数、近赤外分光領域では最大24の相関周波数を提供することができます。IRG-12で使用されるイメージセンサは、2次元バックライト付きCCD（チャージカップリングデバイス）センサの配列です。これらのイメージセンサーは、最高の応答性と精度のために「電子シャッターモード」で構成されています。マシンに付随するイメージプロセッサは、高コントラストエッジ検出のための位置補償フィルタリング技術を使用した高度な画像認識ツールです。SONY IRG-12は、検査プロセスの精度と速度を向上させるために設計された様々な機能を備えています。「3次元イメージプロセッサ」を内蔵しており、2つの異なる画像を同じプレーンから1テイクでキャプチャできます。また「、フラットフィールド補正」機能を内蔵しており、試料内の光路による画像歪みを低減します。さらに、アセットには複数の画像を同時に処理できる「同時イメージング」機能があります。結論として、IRG-12は最新の技術と性能を備えた高度なマスクとウェーハ検査モデルです。最先端の光学技術と画像処理技術を使用して、極めて精度と精度の高い欠陥を特定します。また、3次元画像の生成や複数の画像の同時イメージングも可能です。SONY IRG-12は、検査時間を大幅に短縮し、全体的な欠陥検出を向上させるように設計されています。