中古 SONIX CSAM UHR 2001 #100833 を販売中

SONIX CSAM UHR 2001は、高度で高性能なマスクおよびウェーハ検査装置です。半導体ウェーハおよびマスクの正確かつ正確な自動欠陥分解と解析を行うように設計されており、複雑な半導体デバイスの製造においてより高い歩留まりを生み出します。CSAM UHR 2001は、さまざまなサイズ、形状、形状、位置の幅広い欠陥を検出できる高解像度光学システムを採用しています。自動化された欠陥の解決と分析機能により、エンドユーザーは欠陥と潜在的なプロセスの問題を迅速かつ正確に特定でき、時間と推測が不要になります。これにより、SONIX CSAM UHR 2001は、半導体ウェーハおよびマスクの厳格な検査に最適なユニットとなります。CSAM UHR 2001の中心には、多波長の照明源、光リレーとフォーカスエレメント、イメージキャプチャシステム、プログラム可能な欠陥解析プロセッサなど、いくつかのコンポーネントで構成された高解像度の光学機器があります。このツールは、さまざまな洗練された光学系、充電結合デバイス、および画像処理アルゴリズムを使用して、画像キャプチャプロセスのさまざまな段階で散乱および反射特性の微妙な変化を検出します。これらのデータが処理されて表示され、欠陥の詳細なビューが表示されます。この資産はユーザーフレンドリーであるように設計されており、オペレータートレーニングの必要性を排除します。直感的なタッチスクリーンインターフェースにより、オペレータは検査パラメータの調整、出力ディスプレイのカスタマイズ、画像キャプチャモデルの制御が容易になります。また、明るいフィールドと暗いフィールド、スペクトルフェーズドアレイ、サイドビューイメージング、3Dイメージングなど、さまざまなイメージングモードを提供しています。SONIX CSAM UHR 2001は、マスクおよびウェーハ欠陥の検査および分析に使用可能な最先端のシステムの1つです。高解像度の光学機器とユーザーフレンドリーな制御を組み合わせることで、半導体メーカーにとって理想的な検査ソリューションとなります。効率的かつ正確な分析機能により、製造コスト、時間、複雑さを大幅に削減し、半導体マスクやウェーハの厳密な検査に最適なシステムです。