中古 SLD FGN-20 #9201063 を販売中

SLD FGN-20は、半導体分野において優れた精度と信頼性を提供するように設計された全自動マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、0。1〜0。5 μ mの欠陥を検出できる高度な光学イメージングとアルゴリズムを使用μています。SLD型技術は、小型接点、ブラインドビア、低K誘電体など、さまざまなタイプのサンプルを検査することができます。FGN-20は高解像度のCCDカメラを使用しており、複合した疑似焦点レンズ群から欠陥やその他の特性を検出するのに十分な感度を持っています。これは、手動で選択された操作から各欠陥を検査し、識別するために強力な画像処理ソフトウェアで処理されます。このユニットのHDR （High-Dynamic Range）は、最も困難な欠陥でも認識できるため、幅広い用途に適しています。TAP仮想検査ツールは、パターン化されたレイアウトの層を検査するように設計されており、高感度レーザーパターン検査も提供します。さまざまな高度な画像解析アルゴリズムを使用しています。このツールの高精度と再現性により、検査された各サンプルが最高水準に適合し、毎回信頼性の高い結果が得られます。SLD FGN-20では、欠陥リスト、3D測定、およびさまざまなアプリケーションに使用できるその他のレポートなどのレポートおよびデータ管理機能も提供しています。また、ライブビューのサンプル検査と完全自動SAMレビュー（FASR）によるオンライン測定により、すべての重要な欠陥の自動測定が可能になります。このアセットはユーザーフレンドリーに設計されており、測定精度に影響を与えることなく、簡単な操作とメンテナンスを可能にします。また、要件をカスタマイズするための特定の機能や、サンプルやデバイスの専用またはプライベートエリアも含まれています。高性能データ解析モデルは、各サンプルの解析を実行し、特定された欠陥を自動的に警告します。全体として、FGN-20はマスクおよびウェーハを点検するための信頼でき、正確な装置です。その高度な光学イメージング技術、画像処理ソフトウェア、さまざまな機能により、あらゆるタイプのアプリケーションに適しています。操作とメンテナンスが簡単で、さまざまなレポートとデータ管理機能を提供できます。