中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Xvision #9383149 を販売中

ID: 9383149
ヴィンテージ: 2011
Defect inspection system 2011 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Xvisionは、高性能集積回路(IC)を大量生産するために設計された主要なマスクおよびウェハレビュー機器です。高度なイメージング技術、ソフトウェア制御、精密ロボットを使用して、マスクとウェーハの両方の検査とレビューのプロセスを自動化します。これにより、ICメーカーは最小の機能を迅速に目視で検査することで、歩留まりと時間を市場に投入することができます。SEIKO Xvisionは、自動運転のスピードと精度に優れているため、大量生産環境でのマスクやウェーハの検査やレビューに最適です。このシステムは高解像度の光学系を使用しており、精密なロボット工学と高度なソフトウェア制御とともに、マスクまたはウェーハ上の最小のフィーチャーサイズと公差さえも正確に検出することができます。精度を確保するために、SII NANOTECHNOLOGY Xvisionはユーザーインターフェイスに組み込まれた高度なアルゴリズムと機能を利用しています。ユーザーは、マスクとウェーハ情報へのユニークな洞察を提供するために協力するさまざまなアルゴリズムから選択することにより、個々のニーズに合わせてユニットをカスタマイズすることができます。例えば、従来の検査方法では見落としやすいマスクやウェーハパターンの微妙な特徴を特定して強調表示するようにプログラムすることができます。このツールはまた、信頼性の高い操作と最高の精度を確保するように設計された高度な機能の範囲を誇っています。例えば、Xvisionはライブデータを使用してマスクやウェーハのエラーを修正することをサポートしています。さらに、さまざまな高度な自動化およびプランニングツールを提供しており、検査速度を最大化し、完全なウェーハのレビューに要する合計時間を短縮するために使用できます。さらに、SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XVISIONは、あらゆる環境で安全に動作するように強化された安全モデルを備えています。この機器には、振動や電源の突然の変化などの予期しない事象を検出し、即時シャットダウン機構を作動させるさまざまなセンサーが含まれています。SEIKO Xvisionは、革新的で汎用性の高いマスクおよびウェーハレビューシステムであり、ICメーカーに大量の検査要件に対する信頼性と効率性の高いソリューションを提供します。高度な光学、ロボティクス、アルゴリズム、オートメーション機能により、マスクやウェーハの最小欠陥を正確に検出してトラブルシューティングすることができ、IC生産プロセスを成功させることができます。
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