中古 SEMILAB WT-2000PV #9181932 を販売中

SEMILAB WT-2000PVは、最先端のマスクおよびウェーハ検査装置です。最大スキャン面積512×512ピクセル、最大スキャン速度8cm2/秒の32インチx 32インチまでのフォトマスク検査に最適です。最新の半導体製造およびチップ包装アプリケーションのハイエンドの要求に応えるように設計されており、ユーザーはできるだけ早く障害を特定して診断することができます。SEMILAB WT 2000 PVは、最も正確な目視検査のためのいくつかの高度な技術的機能を備えています。DSPベースの高速コントローラは、周波数と振幅の両方の変調スキャンを提供します。独自のオンボードPROBEソフトウェアアルゴリズム、データ収集ユニット、直感的で使いやすいグラフィカルインターフェイスを備えた大判LCDディスプレイを備えています。また、マスク表面の均一な照明のためのデュアルレーザービームツールを備えています。このアセットには、生産上の欠陥を迅速かつ正確に検出して対処するための自動欠陥認識（ADR）機能が含まれています。ADRは、マスクまたはウェーハ全体をスキャンし、パターンやその他の潜在的な不規則性を高速で高精度に識別します。また、生産プロセスの障害を特定し、その場所を特定するために使用することもできます。WT-2000PVには、高品質のCCDベースの検出器アレイも含まれています。これにより、マスクやウェーハ表面の各点からの反射光のエネルギー量を正確に測定することができます。この機能は、マスクの欠陥を検査したり、人間の目の助けを借りて検出できない可能性のある金、銀、銅などの材料を特定するのに最適です。さらに、WT 2000 PVは、半導体製造およびチップ包装アプリケーションの最新のデータ出力および通信ニーズのすべてを統合しています。このモデルは、イーサネット、USB、 RS-232など、幅広い業界標準プロトコルと互換性があります。これにより、SEMILAB WT-2000PVから他の場所やデバイスにデータを簡単に共有して保存したり、画像を転送したりすることができます。要するに、SEMILAB WT 2000 PVは、半導体製造およびチップ包装アプリケーションに最適な高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。さまざまな高度な機能を備えているため、欠陥を迅速かつ正確に検出でき、通信機能により効率的なデータ転送とストレージが可能です。