中古 SEMILAB WT-2000PV #293770860 を販売中

ID: 293770860
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2008
Measurement system, 12" Type: µPCD Manual indexer Wafer handler Cassette indexer: 100-200 mm (13) Slot cassette indexer with open cassette: 300 mm (25) Slot cassette indexer with FOUP, FOSB and open cassette: 300 mm No PC 2008 vintage.
SEMILAB WT-2000PVは、半導体製造で一般的に使用されるマスクおよびウェーハ検査装置です。その主な目的は、ステンシルへのフォトマスクの露出など、半導体製造プロセスで使用されるマスクの欠陥を検出することです。SEMILAB WT 2000 PVは、フォトマスクの弱い欠陥、およびウェーハ上に存在する可能性のある汚染物質を検出することができます。WT-2000PVは、可能性のある欠陥を正確に検出するためのいくつかのユニークな機能を備えた高度なイメージングシステムを備えています。まず、高速で高解像度の画像を生成することが可能で、ラインレートは最大100kHz、ピクセルサイズは10nmと小さくなります。さらに、内蔵の画像処理ユニットを使用して、より良い画像品質を提供します。また、標準的なSEMでは達成できないfeatであるサイズの0.1µmまでの汚染物質を検出することもできます。これを行うために、マシンは独自のアルゴリズムを使用して、イメージングツールによって生成された生データを処理します。これは、すべての重要な欠陥が識別されることを確認するために、ユーザーにリアルタイムのフィードバックを提供することができます。WT 2000 PVはまた、モデルによって生成された画像の精度と精度を保証する高度な振動減衰アセットで構成されています。さまざまな環境条件で動作するように設計されており、正確で再現性のある測定のためのサンプルチャンバー真空機能を備えています。装置はまた露出時間が正確、信頼でき、精密であることを保障するために調整することができるフォトマスクの露出時間を制御することができます。さらに、操作を容易にし、再現性を確保するために、ユーザーフレンドリーな制御と自動化されたソフトウェアプロシージャを備えています。全体として、SEMILAB WT-2000PVは非常に強力で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査システムです。高度な画像処理機能、高解像度イメージング、振動減衰ユニットにより、正確で正確な測定が可能です。ユーザーフレンドリーな制御と自動化された手順により、使いやすく、一貫した結果が得られます。
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