中古 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #9227867 を販売中

SEMILAB/SDI WT-2000PVN Mask&Wafer Inspection装置は、光学および寸法計測技術を利用して、粒子汚染、異物、反り、傷、ピット、および一般的な表面条件などのさまざまな欠陥を検出するマルチセンサー検査システムです。このユニットは、ウェーハレベルまたはダイレベルチップ、およびMEMS、 LCD、 3Dパッケージなどの光電子デバイスの分析用に特別に設計されています。SDI WT-2000PVNを使用すると、高解像度の光学センサと精密な寸法測定により、広範囲のウェーハやチップを高精度で迅速に検査できます。このマシンは、使いやすいタッチスクリーンコントロールを備えた人間工学に基づいた設計で、各アプリケーションの正しいテストパラメータを簡単に選択できます。また、高度に統合されたこのツールは、テスト環境をサンプリングおよび制御するためのさまざまな自動メカニズムを備えており、一貫して高精度と信頼性を保証します。さらに、画像の自動カラー化プロセスにより、画像全体のコントラストがさらに向上し、不具合の検出が容易になります。SEMILAB WT-2000 PVNマスク&ウェーハ検査アセットは、幅広い用途のための大量のチップおよびオプトエレクトロニクス機器の信頼性と効率的な分析を提供します。このモデルは、高精度で再現性のある結果と使いやすさを提供し、チップメーカー、マスクメーカー、およびその他のエレクトロニクス用途に最適なソリューションです。