中古 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293810216 を販売中

SEMILAB/SDI WT-2000PVNマスクおよびウェーハ検査装置は、マスク、ウェーハ、レチクル、オーバーレイターゲットの自動検査用に設計された光電子イメージングプラットフォームです。優れた光学性能、自動精度アライメント、高速自動画像解析を提供します。このシステムには、CCDセンサーアレイ、4つの蛍光灯、および電動ムーブメントを備えた調整可能なステージが装備されています。イメージングCCDセンサーアレイは、高いピクセル解像度、優れた充電結合デバイス（CCD）読み取りノイズ、低暗電流、広いダイナミックレンジを備えており、明確で正確な結果を提供します。蛍光光源とステージ照明は、最大20万フィートランバートの輝度を提供し、優れたイメージコントラストを提供します。自動化された精密アライメントにより、正確な画像オーバーレイ結果が保証されます。SDI WT-2000PVNは、欠陥検出、CD測定、チャート分析、およびその他の画像ベースのアプリケーション用の専用ソフトウェアを使用して、画像解析機能を自動化しています。画像解析機能は、回転パターンを含む小さな欠陥や変動を検出し、寸法測定を分離し、3Dサーフェス測定を生成するように設計されています。分析はスタンドアロンモードまたは高度なアプリケーション用にカスタマイズされたスクリプトで実行できます。このユニットには、効率的な操作のための高度なソフトウェアインターフェイスも含まれており、自動画像解析と欠陥検出のための事前設定された基準が含まれています。ユーザーフレンドリーなインターフェイスには、校正機能、事前設定された分析基準、自動トレーサビリティ、包括的なドキュメント作成のための強力なデータベースおよびレポート機能が組み込まれています。高度なアプリケーションでは、ユーザーはカスタマイズされた分析のためにスクリプトや他のコーディング言語を使用できます。SEMILAB WT-2000 PVNは、高いスループット、高精度、再現性を必要とするアプリケーション向けに設計されており、幅広いイメージングタスクにわたって優れた性能を提供します。この機械は欠陥の検討、設計規則の点検、レチクルおよびオーバーレイの点検、また半導体、電子工学および医療産業のプロセス制御のために適しています。