中古 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293758025 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
SEMILAB/SDI WT-2000PVNは、マスク、ウェーハ、基板を高解像度光学系で検査・分析するために設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、光学系を適切に整列させ、検査精度を向上させるために、Quadralign™自動化されたアライメント方式を採用しています。このユニットは、画像キャプチャ用の低波長スペクトルを放射するLED光源を採用しています。この光源は、単層マスク検査や画像解析に適した高解像度画像を提供します。ウエハ検査・パターン検体検査を行うためのデジタル顕微鏡を内蔵しています。SDI WT-2000PVNは、簡単なメニューナビゲーションとデータ選択のためのタッチスクリーンを備えた22インチの大型スクリーンモニターを誇っています。WindowsとOS Xの両方のオペレーティングシステムと互換性があります。また、GDSII、 OASIS、 STDF、 CIFなどの国際規格やプロトコルもサポートしています。SEMILAB WT-2000 PVNは、大容量スキャンステージで、研究開発から製造、品質管理まで、あらゆる環境で使用できるように設計されています。この検査ツールは、基板、マスク、およびウェーハのボイド、ブリッジ、傷、転位などの欠陥を検出することができます。このアセットには、潜在的な欠陥を識別し、さらなる分析のためにフラグを付けることができる欠陥識別機能が含まれています。また、不審な部分を正確に測定し、結果を明確な形式で提示するために使用できる画像のエクスポートおよび分析機能もサポートしています。SEMILAB WT-2000PVNは、業界標準の電気安全認証により、優れた性能と信頼性を提供します。半導体、フラットディスプレイ技術、集積回路設計など幅広い分野での使用を想定しています。全体として、WT-2000 PVNは、クリティカルマスク、ウェーハ、および基板アプリケーションを検査するための理想的なマスクおよびウェーハ検査装置です。ユーザーフレンドリーで、大規模な検査エリア、高解像度画像キャプチャ技術、欠陥判別機能を備えており、品質管理に最適です。
まだレビューはありません