中古 SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293625326 を販売中
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SEMILAB/SDI WT-2000PVNは、半導体製造用に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。マスク、フォトマスク、マイクロリソグラフィー、ウエハーを200mmまで幅広くスキャン、検査できます。また、このシステムは、人間の目には通常検出できない非常に小さな欠陥を検出できるため、信頼性が高く正確です。SDI WT-2000PVNは、高度な照明システムと長距離の顕微鏡を備えています。これにより、オペレータはウェーハを動かすことなく、迅速かつ正確にウェーハの表面を検査することができます。また、オートフォーカスとキャリブレーション制御を備えており、高解像度のイメージングを可能にし、精度を大幅に向上させます。SEMILAB WT-2000 PVNは、最大200mmのサイズのマスク、フォトマスク、マイクロリソグラフィー、およびウェーハの多種多様なスキャンおよび検査が可能です。633nmのスキャン波長を持つ内蔵レーザーモジュール、高品質の光学系、5 μ mの高速スキャン速度を備え、広い領域の検査を可能にします。マシンはオートフォーカスも可能なので、ウェーハの表面が不均一または湾曲していても、画質はシャープでクリアに保たれます。さらに、このツールには、粒子、傷、または亀裂などの微細な欠陥を検出するための高品質の検査モジュールが内蔵されています。このモジュールは、ウェーハ表面の最小欠陥を検出することができ、オペレータが詳細な分析を行い、予防措置を講じることができます。SDI WT-2000 PVNは使いやすいインターフェースソフトウェアで設計されており、オペレータはリアルタイムでスキャンプロセスを簡単に監視できます。また、画面上でのガイダンスや画像の平均化、画像ステッチ、画像マスクなどの各種画像処理機能を提供し、欠陥の検出精度を高めています。全体として、SEMILAB/SDI WT-2000 PVNは、マスクおよびウェーハ表面の微小欠陥の検出および分析において、高い精度、速度、および信頼性を提供します。高度な光学およびイメージングシステムにより、毎回鮮明で鮮明な画像が得られます。また、自動フォーカスとキャリブレーション制御により、オペレータは広い領域を迅速かつ正確に検査できます。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと内蔵の検査モジュールにより、全体的なアクセシビリティと操作経験がさらに向上し、WT-2000PVNはあらゆる半導体製造プロセスに最適です。
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