中古 SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9268262 を販売中

SEMILAB/SDI FAaSt 350マスクおよびウェーハ検査装置は、半導体集積回路の製造中に製造されたマスクおよびウェーハの自動表面欠陥検査用に設計されています。この自動化システムは、ウェーハ、マスク、リードフレーム、電子部品、およびその他のフラット基板を含む幅広い基板上の表面欠陥の迅速かつ信頼性の高い検出と評価を提供します。このユニットは、高精度のイメージングと欠陥検出のための高品質のライカ光学を備えた包括的なSDI FAaSt 350光学ステーションを備えています。高解像度のイメージング機能により、4 μ mの小さな欠陥を検出でき、特許取得済みのLow-FG照明装置は欠陥のない背景画像を保証します。このツールはまた、優れた画像のコントラストと可視性を提供し、欠陥の識別と分類を容易にします。SEMILAB FAaSt 350は、シンプルで直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）により、サンプルを迅速かつ簡単に検査できるように、非常にユーザーフレンドリーに設計されています。異なる設定をプログラムして資産に保存することができ、検査中のサンプルに異なる検査プロトコルが必要な場合は、オペレータが素早く機械を適応させることができます。イメージングモデルに加えて、FAaSt 350は、欠陥のリアルタイム検出と分類を可能にするアダプティブサブ分解能の検査アルゴリズムも備えています。これらのアルゴリズムは、サンプルの欠陥を正確に識別するために画像を分析します。さらに、マシンの自動フォーカスとコントラスト最適化テクノロジーズは、正確な欠陥ローカライズを確実にするための正確な画像キャプチャを提供します。SEMILAB/SDI FAaSt 350装置は、ハイスループット動作用に設計されており、サンプルハンドリング機能を自動化し、1時間に最大30個のウエハを検査できます。自動化されたウェーハアライメントモジュールは、さまざまなウェーハサイズと厚さに容易に対応し、ウェーハアライメントを迅速かつ簡単に行うことができます。一旦整列すると、システムは詳細な定量的結果を生成することができ、欠陥検出に対する信頼性を高めることができます。結論として、SDI FAaSt 350マスクおよびウェーハ検査ユニットは、半導体集積回路の製造中にマスクとウェーハを検査するために特別に設計された高度な自動機械です。高解像度のイメージング機能、直感的なGUI、高度なイメージングアルゴリズムにより、高精度で信頼性の高い欠陥検出が可能です。スループット機能と自動サンプル処理により、製造されたサンプルの高速検査に最適です。