中古 SEMILAB / SDI FAaSt 330 #33072 を販売中

ID: 33072
ウェーハサイズ: 8"-12"
ヴィンテージ: 1999
Wafer characterization system, 8"-12" Open cassette handling, 8"-12" Anodized aluminum hot chuck, 12" Gold plated measurement chuck, 12" (2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers Temperature control box Corona switch box I/O Control box Optocoupler BNC Switch box Vacuum / Pneumatic control box WAVETEK 29 DDS Function generator, 10 MHz (2) BERTRAN 2341-1 High voltage power supplies HEWLETT PACKARD Vectra VE6 / 450 Computer Floppy Disc Drive (FDD), 3.5" 100 GB Jazz drive MITSUBISHI LXA550W LCD Monitor OMEGA HX92 Humidity sensor / Transmitter Plasma damage monitor Robot, prealigner and controller removed Power supply: 12 / 24 V 1999 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 330は、プリント基板イメージングを迅速かつ高精度に測定するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、光学顕微鏡を使用して、各印刷層のサイズ、形状、面積に関する情報を提供します。また、配線パターンやはんだマスクの可視化や画像化も可能です。SDI FAaSt 330は、レーザーカメライメージングマシンを使用して、解像度0。12 µm(マイクロメートル)までの画像をキャプチャします。1つのスキャンで最大6m2の材料を測定できるため、高品質の印刷を迅速に評価できます。カメラは、画像の強力な後処理を可能にするコンピュータツールに接続されています。このソフトウェアは、ショートパンツ、フィル、ブリッジを検出する機能、ライン幅と間隔を測定する機能など、幅広いデータ分析機能を提供します。SEMILAB FAaSt 330は、エッジ検出アルゴリズムを使用してシャープなエッジとカーブを検出します。エッジ検出精度は0。24 µmで、パターニングの1層から60層まで測定することができます。画像アセットとエッジ検出アルゴリズムの組み合わせにより、配線パターンとはんだマスクの検査が改善されます。さらに、FAaSt 330は、検査されたデータに関するさまざまな詳細な統計情報を提供します。これには、欠陥の総数、面積あたりの欠陥の数、および欠陥の平均サイズが含まれます。これにより、問題要素を迅速かつ詳細に特定できます。最後に、SEMILAB/SDI FAaSt 330は堅牢なユーザーインターフェイスを備えており、データを迅速に操作および解釈する簡単な方法を提供します。このモデルは、エンジニアと技術者の両方が使用するように設計されています。また、ピーク解析とアラート機能を自動化し、物理的な欠陥が検出されたときにユーザーに通知します。これらの機能はすべて、SDI FAaSt 330を強力なマスクおよびウェーハ検査装置にします。
まだレビューはありません