中古 RUDOLPH / AUGUST NSX 90 #9042209 を販売中

RUDOLPH/AUGUST NSX 90マスク&ウェーハ検査システムは、大量のCMOS半導体ウェーハとマスクを検査するために設計された画期的な新技術です。このデバイスは、部品の精度に依存する半導体業界にとって理想的なナノメートルスケールまで欠陥を検出することができます。AUGH NSX 90は、手動テストやサンプリングを必要とせずに、ウェーハの高速かつ正確な自動検査を可能にする高度な光学センシングシステムを採用しています。このデバイスは、半導体業界で使用される標準的な検査プロセスによって検出するには、通常は小さすぎる欠陥を測定することができます。RUDOLPH NSX-90は、粒子、亀裂、ボイドおよびその他の欠陥を正確かつ効率的に検出することができます。また、光散乱検査技術と画像検査技術を組み合わせて物理的欠陥を検出し、ウェーハ表面の不規則性を確認します。RUDOLPH NSX 90は、高いスループットと非常に低い所有コストを備えているため、半導体業界にとって非常に効率的で費用対効果の高い製品です。このデバイスはまた、検出する必要がある特定の変形に合わせて調整することができるさまざまな柔軟な検査パラメータと、必要な感度の異なるレベルに対応するためにカスタマイズされた光の設定を提供します。このデバイスには、結果の自動取得と分析を可能にする強力なソフトウェアおよびハードウェアソリューションも含まれているため、ユーザーは修理または最適化する必要がある半導体ウェーハの領域を簡単に特定できます。さらに、RUDOLPH/AUGTH NSX-90には、ユーザー定義の検査および測定しきい値が含まれているため、お客様はウェハの精度と再現性のために独自のパラメータを設定できます。全体として、NSX-90は理想的または半導体およびマスク&ウェーハ検査アプリケーションです。その強力な機能と機能により、ユーザーは信頼性と費用対効果の高い方法でこれらのコンポーネントの状態を一貫して高精度に評価することができます。このデバイスは、今後何年もの間、半導体業界に貴重な資産を提供することができます。