中古 RUDOLPH / AUGUST NSX 320 #9248723 を販売中

RUDOLPH/AUGUST NSX 320は、自動マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、幅広いアプリケーションタイプに対して高いレベルの欠陥検出および検査機能を提供するように設計されています。半導体チップ、マスク、ウェハ検査の製造と研究の両方に使用できます。AUGH NSX 320ユニットは、ウェーハスケールの欠陥検出と不透明な機能およびパターン化された機能の検査を提供します。自動化されたカメラと光源を備えた光学顕微鏡を備えており、簡単かつ効率的な検査が可能です。オンラインイメージ処理および欠陥検出アルゴリズムにより、壊れたパターン、壊れたワイヤ、およびずれたパターンなどの欠陥タイプを正確に検出できます。このアセットには欠陥レビューと分析パッケージも含まれており、ユーザーはモデルによって検出された欠陥をレビューし、検出された結果のレポートを作成することができます。この機器はカスタマイズ可能なユーザーインターフェイスを備えており、プロファイルレベルや閾値チューニングなどの直感的な多次元ディフェクトレビューを提供します。これにより、システムは幅広い日常的な欠陥レビューおよび分析タスクを可能にし、柔軟性とスループットを向上させます。このユニットには、一連のウエハレベルの欠陥クラスタリング解析機能も含まれています。これには、相互接続性、不規則性、および潜在的な形状欠陥を示す可能性のある形状パラメータなどの構造または特徴のばらつきを識別する統計的分類ツールが含まれます。また、欠陥パターンを迅速かつ正確にレビューすることができます。RUDOLPH NSX 320はまた、マシンが絶えず欠陥の傾向を監視することを可能にするユニークな「スマートステータス」機能を備えています。これにより、欠陥のリアルタイム監視が可能になり、パフォーマンスと効率性に関する最新のフィードバックが得られます。このツールは、自動欠陥分類やパターン解析などの他の進歩と組み合わせることで、欠陥を迅速かつ効率的に正確に検出および分析することができます。全体として、NSX 320アセットは、ウェーハ、マスク、およびその他の半導体アプリケーション向けの堅牢で高性能な検査プラットフォームを提供します。このモデルは、業界で比類のない欠陥検出および解析機能を提供します。その機能、柔軟性、パフォーマンスは、半導体アプリケーションの詳細な欠陥検出と分析を実現する企業にとって理想的な選択肢です。