中古 RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #9293541 を販売中

RUDOLPH/AUGUST NSX 105は、半導体製造業界で使用するために設計された、効率的で信頼性の高いマスクおよびウェハ検査装置です。レーザーとカメラを使用して、製品の最小のチップ、亀裂、または迷子の粒子を検出する非接触ベースのシステムです。製品の歩留まりと品質を評価するために、製品表面の粒子や欠陥を検出することができます。AUGTH NSX-105は複数のカメラを異なる角度で搭載し、欠陥0を検出することができます。5umのサイズとアップ、また13nmまでのスポット解像度の範囲で比類のない感度を提供しながら。これは、高品質の画像で正確な欠陥検出を保証するために、独自のアルゴリズムと統合パターン認識ソフトウェアの数を利用しています。さらに、検査時間を短縮し、迅速なバッチ操作を可能にする並列処理をサポートする完全に自動化されたワークフローを提供します。RUDOLPH NSX 105は、3D構造と2D構造の両方を扱うことができ、平面構造と非平面構造の両方を検査するメーカーにとって理想的な選択肢です。また、大規模な検査のためのエリアモード、特定の領域を検査するためのラインモード、小さな領域の画像を素早くキャプチャするためのポイントモードなど、さまざまなワークフローをサポートするための複数の動作モードも含まれています。このツールのハードウェアコンポーネントには、安定性と精度のために構築されたテストステージが含まれており、さまざまなサンプルサイズに対応するためのさまざまな真空およびクランプを提供します。さらに、このアセットには、超高解像度の画像を生成する優れた光学系で最高の倍率を提供する対物レンズが含まれています。このモデルのソフトウェアは、不具合の検出と分類に要する時間を短縮するインテリジェントなエディション機能を備えた使いやすさのために設計されています。グレード画像と欠陥レポートの両方を作成して結果を視覚化することができ、さまざまな形式でデータをエクスポートすることができます。要約すると、RUDOLPH/AUGH NSX-105マスクおよびウェハ検査装置は、半導体業界での使用に特化して設計された効率的で信頼性の高いシステムです。複数のカメラ、独自のアルゴリズム、および迅速、正確、高品質の欠陥検出をサポートする完全に自動化されたワークフローを備えています。そのハードウェアは安定性と精度のために構築され、ソフトウェアは欠陥の検出と分類に必要な時間を短縮するように設計されています。