中古 RUDOLPH / AUGUST NSX 105 #293607882 を販売中
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タップしてズーム
ID: 293607882
ヴィンテージ: 2006
Macro defect inspection system
Includes:
Wafer handler
Universal film frame handler
Missing / Damaged parts:
X-Stage encoder
NSK Controller
Matrox PC
PS Stage, 24 V
2006 vintage.
RUDOLPH/AUGUST NSX 105は、半導体マスクおよびウェーハの検査および修理に最新の費用対効果の高いソリューションを提供する高性能マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、3D画像認識、画像ステッチ、デュアルビームレーザー、高度な画像処理アルゴリズムなどの高度な検査技術を使用して、ICの欠陥を正確に特定して検出するように設計されています。AUGH NSX-105は2つのレーザーを「デュアルビーム」設計で使用しています。ウェーハやマスクパターンの形状やサイズなどの特性を高精度に解析することができます。ユニットによって生成されたすべての画像をオンボードメモリに保存して、さらなる処理と分析に使用できます。このマシンには、複数の画像をリンクして大きなフィールドをより迅速かつ正確に分析するために使用できる、オンボードイメージステッチのオプションも含まれています。RUDOLPH NSX 105には、複雑なパターンを効率的かつ迅速に正確に検査できる高度なソフトウェアスイートが装備されています。その3D画像認識機能は、非常に小さな欠陥やパターンを迅速かつ正確に検出することができます。さらに、このツールに使用されるソフトウェアには、統合境界検出や欠陥クラスタリングアルゴリズムなどの追加の高度な機能が含まれています。アセットはコンパクトで軽量で操作が簡単です。これにより、オペレータは重要なパラメータを素早く調整したり、カスタム検査手順を設定したりすることができます。また、IC生産ラインやICカプセル化システムなど、幅広いアプリケーションやコンテキストで使用できます。RUDOLPH NSX 105は、半導体マスクおよびウェーハの検査および修復のための信頼性の高い効率的なソリューションです。高度な画像認識と画像ステッチ機能により、高精度な解析が可能です。また、使いやすく柔軟なユーザーインターフェースにより、さまざまな用途に適しています。これらの機能を組み合わせることで、精度、信頼性、費用対効果の高いマスクおよびウェーハ検査を必要とするあらゆる半導体生産環境に最適です。
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