中古 RUDOLPH / AUGUST CV 9812 #9223286 を販売中
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ID: 9223286
ウェーハサイズ: 12"
Wafer career inspection, 12"
High resolution CCD Camera
Probe
LCD, 15”
PC:
Processor: 300 MHz
Hard Disk Drive (HDD): 4.3 GB
Floppy Disk Drive (FDD): 3.5”
Dram: 24 x CD 32 MB
Operating system: Windows NT4.0
Power unit:
Cable
Handy barcode reader
Performance:
Measurement accuracy:
Direct measurement: ±0.0254 mm
Rear wafer position measurement: ±0.0762 mm
Repeatability: ±0.013 mm (Use STD Calibration tool, 6σ)
Operating environment: 20°C - 22°C (Volatility 0.5°C/hour ≦)
Facility:
Manual
CDA: 90 - 100 PSI 5/16” OD
Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 1φ.
RUDOLPH/AUGUST CV 9812マスク&ウェーハ検査装置は、リソグラフィブロックの効率的な目視検査と分類を迅速かつ正確に行うために設計された高性能で信頼性の高いツールです。このシステムは複数の検査機能を備えており、異物、バンプ、傷などの部品の欠陥を検出することに特化しています。フラットパネルディスプレイ、半導体集積回路(IC)、 OLED、有機LED (OLED)、 LED、太陽電池などの薄い基板の検査に適用できます。機械はマスクの層の厳密なピッチを測定するのに使用される精密なガラスレス、光学的に完全な点検窓が装備されています。これにより、極めて精度の高いリソグラフィブロックの微小な変動を検出し、欠陥パターンの解析と修復の両方を可能にします。このアセットは、自動欠陥検出と手動検査のための高度なアルゴリズムもサポートしています。このモデルは、部品の粒子などの欠陥を検出するために、レーザー干渉計や画像処理などの高度な光学技術を使用しています。レーザー干渉計は、マスク層の各詳細パターン間の距離を正確に測定するために使用されます。イメージプロセッサは、異物の存在などの欠陥を識別するために画像を分析します。画像は、サイズ、形状、位置、およびその他のパラメータに基づいて欠陥を分類するためにも使用できます。装置はまた、複数のレベルの欠陥を検出して分類することができます。これは、技術者が問題をより詳細に見ることができ、欠陥の原因を特定したり、それに応じて分類したりするのに役立ちます。これにより、時間とリソースを節約し、効率を向上させ、さらなる製品の損傷を防ぎます。AUGH CV 9812マスク&ウェーハ検査システムは、テストシステムと統合されており、オペレータは欠陥を評価および修復しながら生産状況を確認することができます。さらに、このユニットは、欠陥検出精度をさらに向上させる高度な分析機能を提供するように設計されています。これにより、実用的なデータが収集され、ハードウェアエンジニアやサプライヤーなどの他のステークホルダーと共有できるように保管されます。RUDOLPH CV 9812マスク&ウェーハ検査機は、リソグラフィブロックの高速、正確、正確な検査および分類のための高度なツールです。多用途な光学技術、自動検査機能、統合分析により、欠陥をタイムリーかつ効率的に検出および修復することができ、コストの節約と製品品質の向上に役立ちます。
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