中古 RMB-TECHNOLOGY LSiS 300 #9227862 を販売中

RMB-TECHNOLOGY LSiS 300は、半導体業界で使用される高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。フォトマスク、LCD、 MEMS、 OLEDなどのマスク、ウェーハ、薄膜など様々な用途で、粒子、欠陥、ラインエッジ、パターンの問題を検出することができます。LSiS 300は、高解像度スキャンラインカメラを搭載しています。この高解像度カメラは、さまざまなアプリケーションで粒子、欠陥、ラインエッジ、パターンの問題を検出することができます。システムはユーザーフレンドリーで、欠陥検査、ラインエッジプロファイル測定、欠陥ランキングなどの複数の動作モードが可能です。このユニットは、さまざまな解像度とサンプリングサイズで高精度を提供するように設計されています。このマシンには強力な検査アルゴリズムが装備されており、単一のスキャンで何千もの粒子、欠陥、ライン、パターンを検出することができます。このツールは、あらゆる欠陥のサイズ、形状、方向を分析することもできます。さらに、資産は、複数のスキャンからデータを収集し、分析することができます。このモデルは、自動欠陥検出を可能にする強力な画像処理アルゴリズムで設計されています。画像処理アルゴリズムは、さまざまな技術を使用して欠陥を強調し、それらを粒子やボイドとして分類することができます。さらに、これらのアルゴリズムは、高精度で直線エッジを検出し、形状、サイズ、間隔などのパターン機能を抽出することができます。RMB-TECHNOLOGY LSiS 300は完全にプログラム可能な環境で設計されており、粒子や欠陥のサイズからラインエッジ幅など、複数の検査パラメータを定義できます。また、テキスト、CSV、 BMP、その他の画像フォーマットなど、幅広いデータ出力オプションを備えています。これにより、ユーザーはシステムからのデータを簡単に分析することができます。LSiS 300は、マスクやウェハの検査、計測、金型検査、3D地形、故障解析など、さまざまな産業用途に適しています。このユニットは信頼性が高く、堅牢で、信頼性の高い結果を提供することができます。このマシンは、さまざまな半導体アプリケーションを検査するための高速で高精度で低コストのソリューションを提供します。