中古 PROBING SOLUTIONS WM42 #140675 を販売中

プロービングソリューションWM42マスク&ウェハ検査装置は、集積回路（IC）検査用の高性能、高速イメージングおよび解析システムです。生産ライン向けに設計されており、FinFET、 3D、高電圧（HV）など、最も要求の厳しい複雑なICに使用されています。非接触光学と接触電気測定の両方に強力な検査機能を提供します。WC42ユニットは、顕微鏡の視野を持つ一連の特別に設計されたプローブを使用しています。プローブは、ICの画像をキャプチャするための高解像度、高ズームレンズを備えたイメージングマシンに接続されています。プローブを含むイメージングヘッドを精密な線形ステージに取り付け、ICの任意の領域に正確にヘッドを向けることができます。プローブは正確に校正され、回路の電気的挙動を最小限に抑えてIC回路内の欠陥を識別することができます。プローブは、光学技術とレーザー技術を組み合わせて使用して、微細構造の完全な物理的および電気的解析を行うことができます。WM42の高度な解析システムには、いくつかの高度な画像処理アルゴリズムとソフトウェアツールが含まれており、検査によって得られた画像の詳細な検査と分析を可能にします。このデータは、欠陥を特定し、詳細なレポートを出力するために使用できます。プロービングソリューションズWM42ツールは、IC回路の短絡および開回路の欠陥を識別する高度な電力測定も提供します。ICのロジックセル全体の電圧と電流の低下を識別するための電力測定。これにより、電気回路の弱点を特定できます。WM42アセットは、プローブヘッドをIC上の任意の点に正確に移動させるための高度な熱振動およびモーションコントロールも提供します。このモデルには、ICの3Dビューへのアクセス、エッジ強化イメージング、マルチチャネル解析、フィードスルーテストなど、お客様のための多くのオプションがあります。PROBING SOLUTIONS WM42装置は、ICにとって非常に貴重なツールであり、欠陥を特定し、製品歩留まりを改善するための高度なプロービングおよび分析機能を提供します。ICモニタリングと生産管理を迅速かつ正確に行うことができ、顧客が期待する製品を確実に入手できます。