中古 OSI Metra 2200M #9384889 を販売中

OSI Metra 2200M
ID: 9384889
Overlay measurement system.
OSI Metra 2200Mは、半導体製造で使用されるウェーハやマスクを迅速かつ正確に検査できるように設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、高度な高解像度イメージングユニットを使用して、ウェーハまたはマスク上のすべての画像を数秒で分析します。短時間でエラーや欠陥を識別できるため、生産レベルの製造に最適です。Metra 2200Mは、センサー/itcoreプロセッサと光学アレイの2つの主要コンポーネントを使用して構築されています。センサー/itcoreプロセッサは、ツールの目として機能し、ウェーハまたはマスク上のすべての画像を読み取ります。光学アレイは、800-1000x倍率で画像をキャプチャし、結果を分析するアルゴリズムを適用します。これにより、OSI Metra 2200Mエラーと欠陥を検出する機能が得られます。Metra 2200Mは、さまざまなソフトウェアツールを使用して結果を提供します。これらには、高度なパターン認識、欠陥レビュー、およびプロセス制御機能が含まれます。パターン認識機能は画像の異常や異常なパターンを識別し、欠陥レビュー機能は汚染、ずれなどの望ましくない条件をチェックします。最後に、プロセス制御機能は、プロセスを監視し、必要な調整にフィードバックを提供することにより、生産を合理化するのに役立ちます。全体として、OSI Metra 2200Mは強力で効率的なマスクおよびウェーハ検査資産です。製造現場で欠陥を素早く正確に検出できるため、半導体メーカーには欠かせないツールです。このモデルの高度な機能により、問題を迅速かつ便利に識別することができます。高解像度のイメージングは、あらゆる欠陥の詳細な画像を提供します。さらに、装置のプロセス制御機能は、製造メーカーの生産を合理化するのに役立ちます。そのため、Metra 2200Mは半導体メーカーにとって効果的で信頼性の高いデバイスです。
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