中古 NIKON Optistation #293811505 を販売中

NIKON Optistationは、高度な半導体製造のために設計された高度なマスクおよびウェーハ検査装置です。強力なレーザービームスキャンシステムと、アングストロームのレベルまで、数ナノメートルのマクロなレベルまでの微小欠陥を検出できる自動ウェーハ検査プロセスを組み合わせています。Optistationは、精密ミラーと対物レンズからなる光学ユニットを使用しています。ミラーはオートフォーカスまたはズームミラーの一種であり、検査対象物を画像化するための様々な機能を備えています。光学機には、検査されたウェーハを照らす露出照明ツールも装備されています。このアセットは、要件に応じて変更することができる光源を使用しており、視覚的にもストリークイメージングモデルでも欠陥を検出するために使用することができます。NIKON Optistationには大型LCDスクリーンとフルサイズのグラフィックユーザーインターフェイス（GUI）もあります。このGUIには、検査されたウェーハの欠陥タイプと位置をグラフィカルに表示する機能があり、欠陥を詳細に識別および評価するのに役立ちます。自動ウェーハ欠陥分類装置は、さらに欠陥の分析に役立ちます。Optistationは、最大612mm x 836mm、厚さ0。2mmから8mmまでの広範囲のウェーハおよび薄膜デバイスを自動的に処理するように設計されています。また、25xから7500xまでのダイナミックズーム、さらに拡大するために25xから30xまでの手動ズームも備えています。このシステムは、高い再現性と精度を提供するように設計されており、画像品質と精度の両方を提供します。レーザビームスキャニングユニットの速度は調整可能で、産業レベルの半導体製造に最適です。NIKON Optistationには、汚染、傷、突起、ピット、空隙、ほこり、凹凸層など、さまざまな欠陥を検出できる様々な解析ソフトウェアや画像処理技術が搭載されています。さらに、セラミックス、金属、プラスチックなど、さまざまな材料の欠陥を検出するために使用できます。Optistationは、高解像度スキャンと分析のためのさまざまな解像度を画像に提供する機能を持っています。このツールには、さまざまな欠陥タイプを迅速に識別するための高度なパターン認識機能も含まれています。さらに重要なことは、この資産は、すべての最新の画像処理ソフトウェアと技術と互換性があるように設計されています。要約すると、NIKON Optistationは、高度な半導体製造のために設計された高度なマスクおよびウェーハ検査モデルです。強力なレーザービームスキャンと自動欠陥分類ソフトウェアを組み合わせて、ウェーハまたは薄膜デバイスの顕微鏡および巨視的欠陥を検出します。高い再現性と精度、優れた画像品質を提供し、高解像度スキャンと解析のためのさまざまな解像度を画像に提供する機能を備えています。全体として、Optistationは現代の産業半導体プロセスにとって優れた強力なツールです。