中古 NIKON NRM-3300 #9315411 を販売中

NIKON NRM-3300は、半導体業界に高いスループット、高精度プロービング、計測機能を提供するマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、ウェーハ解析とデバイス解析の両方に低コストで高性能な動作を提供します。NRM-3300ユニットは、ウェーハとデバイスの両方の作業に使用できる統合された検査および測定ソリューションを提供します。マスク検査機能により、ダイスのマスクや表面の不具合やバリエーションを迅速に確認できます。このツールは、画像強化、パターン認識、3D欠陥検査、および自動アライメントの組み合わせを使用して、傷、短絡、ギャップフィル、寸法変化などのさまざまな欠陥を検出することができます。デバイス解析のために、NIKON NRM-3300には多くの高度な計測機能が含まれています。アセットのインフラストラクチャを使用して、後処理と後処理検査の両方のためのダイレベルデータのキャプチャと分析を容易にすることができます。これには、さまざまな倍率機能を備えたデバイスの画像を取得し、画像処理技術を適用して、直線性、ダイナミックレンジ、コントラスト、可視性などの直角プローブやデバイスパラメータにデータを提供する機能が含まれます。柔軟なユーザーインターフェイスにより、NRM-3300は迅速で正確で信頼性の高い検査のための幅広いツールを提供します。これには、リアルタイムパラメトリック解析、デジタルイメージ処理、カラービデオイメージングなどの組み込み機能が含まれます。このモデルはまた、ダイレベル寸法計測とデータビジュアライゼーションのための包括的な測定および分析機能を提供します。ニコンのNRM-3300機器は、強力な検査機能に加えて、多くの高度な技術機能を備えています。UVイメージングを使用して、目に見えないパターン登録を保証し、微妙な材料の変化をすばやく検出するだけでなく、さまざまな故障解析アプリケーションをサポートするように設計されています。このシステムには、パターン、パラメータセット、画像をロードおよび保存するためのカスタマイズ可能なデータ管理ツールも含まれています。全体的に、NRM-3300マスクおよびウェーハ検査ユニットは、強力で信頼性の高い計測およびイメージングツールです。この機械は、高速、欠陥検出、デバイス解析、ポストプロセス計測機能を提供することにより、半導体業界に包括的な検査および測定機能を提供します。包括的な機能と柔軟なユーザーインターフェースを備えたNIKON NRM-3300は、デバイスを正確かつ迅速に検査および測定し、故障または劣化した生産が迅速に識別および整流されるようにする機能を提供します。