中古 NIKON AMI-3300 #293600872 を販売中

NIKON AMI-3300は光学顕微鏡のために設計されているマスク及びウェーハの点検装置です。マスク、ウェーハ、レチクルなどの半導体基板における重要な高解像度パターンの非破壊画像のための汎用性と信頼性の高いツールを提供します。AMI-3300は直径120mmの広い視野（FOV）を備えており、高い精度でサンプル中の多数の小さな欠陥を検出・解析することができます。高解像度デジタルカメラと可変倍率レンズも搭載。これらの機能により、10ミクロンから6ミクロンまでのパターンの検査と分析が可能になります。NIKON AMI-3300には、コンタクトモード、イメージング最適化ツール、定量分析スイートなど、さまざまなイメージングおよび解析ソフトウェアが搭載されています。コンタクトモードは、API表面の関心領域の画像を取得するために使用され、画像最適化ツールは、欠陥を強調するために各画像の焦点とコントラストを調整するために使用されます。定量分析スイートは、欠陥検出を改善するための特徴サイズと面積の正確な測定を提供します。AMI-3300は直感的なユーザーインターフェイスを持ち、ユーザーフレンドリーに設計されています。操作・ナビゲートが簡単で、マスク・ウエハ検査に要する時間を最小限に抑えることができます。さらに、このマシンは手動または自動化された操作をサポートし、カスタマイズ可能なコマンドにはキャリブレーション、イメージング、データエクスポートが含まれます。一貫した画像・解析結果を得るために、白色光源、紫外線光源、斜め光源など複数の光源でAMI-3300を構成することができます。このツールは、大面積サンプルの迅速かつ効率的なスキャンを可能にする電動ステージを備えています。さらに、ステッチされた画像出力により、サンプル自体を動かすことなくサンプル全体を簡単に表示できます。資産のさらなる制御と幅広い機能のために、AMI-3300は欠陥マッピング、ソースレベルの検査、故障解析などのサードパーティ製ソフトウェアと統合することができます。このモデルは、オンボードコンピューティングだけでなく、データ分析や視覚化も提供します。結論として、NIKON AMI-3300は、複数の製造プロセスの光学顕微鏡および品質管理に最適な信頼性とユーザーフレンドリーな検査装置です。このシステムは、直感的なユーザーインターフェイス、可変倍率レンズ、電動ステージ、および複雑なパターンの小さな欠陥を正確に検出するための複数の光源を備えています。さらに、このユニットはサードパーティ製ソフトウェアと統合することができ、データ分析と可視化をサポートして、サンプルのメイクアップに関する詳細な洞察を提供します。