中古 NEONTECH NTM-60A #9144069 を販売中

NEONTECH NTM-60Aは、半導体産業のために設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。マスクの薄膜層とエッチングされたウエハのパターンの両方を高精度かつ高速に検査・分析することができます。スペクトル範囲220-1700nm、 75 µmピクセルサイズの光学イメージングシステムと、材料と物体を区別するためのセンシティブ・ポイント・スプレッド機能（PSF）ユニットを備えています。広視野170mmとズーム機能により高速検査が可能です。フレームレートは全解像度で50fps〜100fpsの範囲で表示されます。このツールは、自動欠陥検出とレポート作成のための高度なアルゴリズムと、各画像フレームを個別に表示したり、コメントや注釈を追加したり、設定を調整したりできるインテリジェントな画面表示を使用します。NTM-60Aは、マスクとウェーハ検査モードの両方で幅広いパラメータを測定します。これらのパラメータには、平均コントラスト、ピークコントラスト、標準偏差、ノイズ、ノイズ対シグナル比、ぼかしインデックスが含まれます。また、エッジとエッジの平坦度、エッジ半径、ステップの高さと密度、厚さなどの表面関連パラメータも測定できます。アセットのインタラクティブなユーザーインターフェイスにより、セットアップと操作が簡単になります。分析に最適な画像を選択する自動画像取得および選択機能を備えています。解析パラメータは、要件の変更に基づいて修正することができます。また、NEONTECH NTM-60Aは、ホットスポット、アライメントエラー、マスク品質の分析に役立つさまざまな自動ツールを備えています。これらのツールは、さまざまなパラメータを正確に調整し、分析に必要な時間を短縮することができます。NTM-60Aはマスクの修理および失敗の分析のためにまた大きいです。そのマルチゾーン比較とトレンド分析により、線幅のバリエーションからフォトレジスト、エッチングまたはフォトマスクのアライメント不良などの問題を検出できます。また、迅速な視覚化を可能にし、並んで画像を比較してマスクのインプロセスを検査することができます。NEONTECH NTM-60Aは、マスクやウェーハの検査を迅速かつ簡単に行うように設計されており、さまざまな半導体アプリケーションで信頼性と正確な結果を提供します。それは生産の効率を高め、マスクの欠陥および欠陥を見つけ、解決するプロセスを収穫し、そしてスピードをあげます。