中古 NAPSON RT-70 #293663790 を販売中

NAPSON RT-70は、高度なイメージングおよび分析ツールを備えた高性能マスクおよびウェーハ検査装置です。正確な欠陥のレビューと診断を可能にするために、正確で再現性のある正確な検査結果を提供するように設計されています。このシステムは、最大8"までの4"および6"レチクルから検査でき、28nmの機能検出性と自動平坦度および複合非平坦度測定を提供します。RT-70は、高速性と信頼性を高めるための高度なアーキテクチャを利用しています。2台のカメラを使用して、レチクルまたはウェーハの高解像度画像を撮影し、画像の異なる部分に焦点を当てて、エリアのカバレッジ率を2倍にします。NAPSON RT-70には、欠陥検出と一貫性を向上させるイメージコレーションユニットも備えています。この画像照合機は、各検査点がダークフィールドとブライトフィールドの両方の領域で完全に検査されることを保証します。このツールはAdvanced Defect Classification （ADC）テクノロジーを使用して、真の障害、迷惑な欠陥、印刷エラーを区別します。ADCには、欠陥とノイズを区別する高度な欠陥検出および分類アルゴリズムが含まれています。自動化されたカテゴリ識別と欠陥キューへの手動入力の両方を提供します。最大1000xまでの柔軟な倍率で、アセットは、正確な検査結果を提供するために、各フォーカスエリアで最小の異常を検出することができます。一連の洗練されたアルゴリズムを活用して、汚染の領域を予測し、粒子サイズの測定を提供し、サブリゾリューションの欠陥を検出します。RT-70は直感的でユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、その強力な機能に素早く便利にアクセスできます。PCベースのユーザーインターフェイスを備えており、多言語サポートを提供し、設定に簡単にアクセスできるだけでなく、リモートモデルアクセスのためのWebインターフェイスも含まれています。また、C++、 C#、Visual Basicなどのプログラミング言語の豊富なライブラリもサポートしており、高度なカスタマイズが可能です。この機器には、自動レシピ設定ルーチンを提供するRecipe Creatorや、ユーザーがシステムを迅速に再構成できるFlexi-Reconfigurationソフトウェアなどの追加機能のためのオプションのアドオンパッケージも用意されています。NAPSON RT-70は、半導体および太陽電池業界のマスクおよびウェハ検査アプリケーションに最適です。高解像度のイメージングおよび解析機能により、潜在的な欠陥を検出および診断するための貴重なツールとなります。比較的手頃な価格で迅速かつ正確な結果を提供することにより、RT-70は効率を高め、生産コストを削減するのに役立ちます。