中古 NAPSON RC-2PN #9301381 を販売中

NAPSON RC-2PNマスク&ウェーハ検査装置は、フラットパネルディスプレイ（FPD）など半導体デバイスの評価用に設計された高精度な検査装置です。その独特な特徴はそれを小さいパターンおよび特徴のサイズのプロダクト、また高解像度の質の点検のための理想的な選択にします。このユニットは、生産性を向上させ、コストを削減し、最高品質の製品規格を保証するように設計されています。RC-2PNマスク&ウェーハ検査システムは、高解像度カメラ、反転光学顕微鏡、8 インチLCDモニターを内蔵しています。高精度オートフォーカスレンズと高速画像処理アルゴリズムを搭載し、最高の精度と画質を提供します。反転光学顕微鏡は、OPMマスク、金属、ポリイミドなどの様々な材料の検査を可能にします。8 インチLCDモニターは、より大きな表示領域を可能にし、オペレータが異常や欠陥を容易に識別するのに役立ちます。NAPSON RC-2PN Mask&Wafer Inspectionユニットは、様々な表面に0.2µm小さなパターンや特徴を正確に検査することができます。また、複雑な構造を正確に検査するための高度なエッジ検出アルゴリズムを備えた詳細な画像解析も提供します。また、さまざまな画像オーバーレイをサポートしており、さまざまなパターンやサーフェスを分析および比較するのに役立ちます。この機械は、自動ダイツダイ検査のためのさまざまな包括的な機能と、ステップアンドリピート検査を備えています。このツールは、非均一ウェーハおよび非正方形FPDのサンプルの正確な登録をサポートします。また、個々のダイを簡単かつ正確に整列させるためのダイトラッキング機能も備えています。このアセットはまた、その品質に基づいてダイをソートするためのトレースビニングを可能にします。RC-2PNマスク&ウェーハ検査モデルは、真の欠陥検出のための非常に低い欠陥しきい値を持っています。それは効率的に真の欠陥だけが検出されることを保証する欠陥特性認識アルゴリズムを持っています。また、128Mのメモリ容量を備えているため、検査時間を大幅に短縮できます。要するに、NAPSON RC-2PN Mask&Wafer Inspection Systemは、フラットパネルディスプレイやその他の半導体デバイスの検査に最適に使用するために設計された汎用性の高い機械です。そのユニークな機能は、費用対効果と効率的な方法で最高の製品品質を達成するための素晴らしい選択肢となります。