中古 NAPSON NC-800MAP #9410574 を販売中

NAPSON NC-800MAPは、半導体生産における品質管理とプロセス管理に使用される高度なマスク&ウェハ検査装置です。この最先端のシステムは、マスクとウェーハの迅速で効率的で費用対効果の高い検査を目的に設計されています。その主な特徴は、最大8.8µm/pixel分解能で、最大8つのサンプルを並列に検査することができる超高解像度のデジタルイメージングユニットが含まれています。また、広いダイナミックレンジと優れたイメージコントラストを備えており、小さな欠陥でも正確な検査が可能です。このツールには、IMP （NC-800MAP Image Processor）と呼ばれる強力な画像処理ソフトウェアパッケージも含まれています。このソフトウェアを使用すると、複数のレイヤーを含む画像とマスクの両方を保存および分析でき、あらゆる欠陥を簡単に検出できます。このアセットは、手動操作と自動操作の両方をサポートしています。手動モードでは、オペレータはパラメータを定義および設定し、顕微鏡の頭部を手動で動かし、測定データを救うことができます。自動モードでは、モデルは自動的に実行され、所定の結果とパラメータがトリガーされます。NAPSON NC-800MAPは、完全な精度を確保するために、高度な光学アライナーを搭載しており、高解像度の画像に最適なフォーカスを達成するために、顕微鏡の下でサンプルを自動的にマウントして正確に調整することができます。また、信頼性の高いウエハハンドリングシステムを搭載しているため、手作業での調整を必要とせず、様々なメーカーからも高精度のウエハーの積載・検査が可能です。最後に、このユニットは、高品質の古典的な密封鋼構造によって環境ダストから保護され、静電気等の外部ダストによる損傷からも電子機器の保護を保証します。幅広い機能を備えたNC-800MAPは、マスクやウェーハを迅速かつ正確に検査する半導体業界の企業に最適なソリューションです。