中古 NAPSON NC-3000F #9085605 を販売中

NAPSON NC-3000Fは、マイクロエレクトロニクスおよび半導体産業で使用するために設計された、高度で信頼性の高いマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムには、電界放射走査型電子顕微鏡（FESEM）または通常のイメージングオプションのいずれかを選択して、利用可能な最高解像度のイメージングを提供することができます。NC-3000Fは最大2µmの分解能を持ち、0.1µmライン/スペースのスキャン精度を達成することができます。つまり、非常に小さな機能やマスキング要件を検査することができます。それは点検プロセスを最大限に活用し、優秀なイメージの質を保障するのを助けるいろいろ調節可能な変数が装備されています。NAPSON NC-3000Fは、高解像度のイメージング機能に加えて、1秒間に最大1000個のウェハのオートフォーカス画像を正確に取得できる堅牢な自動ウェーハ検査ユニットを備えています。本機は、独自のBrightfield Inspection技術を使用しており、傷、汚染、不完全なリソグラフィなどの問題による歩留まり欠陥を容易に識別できます。NC-3000Fの直感的な機能により、非常に挑戦的で要求の厳しいマイクロエレクトロニクスイメージングアプリケーションに最適です。複数のマスクアライメント、白色光の干渉補正、その他の高度な画像解析オプションなど、多くの自動機能を備えています。さらに、このツールには高精度のステージが装備されており、正確で反復可能なウェーハアライメントを容易にします。結論として、NAPSON NC-3000Fマスクおよびウェーハ検査アセットは、高精度のイメージングアプリケーションに最適なツールです。高度なイメージング機能、自動画像取得機能、直感的な機能により、高い精度と再現性を実現する強力なモデルです。