中古 NANOMETRICS Spark-300 #9352204 を販売中

NANOMETRICS Spark-300は、最新の半導体製造プロセスにおいて卓越した動作精度と品質を保証する高解像度計測技術を搭載した「マスク&ウェーハ検査」装置です。このシステムは、プリント基板、半導体ウェーハ、その他の小型部品の自動測定タスク構造を容易にするために特別に設計されています。Spark-300は、精密な計測分析に理想的なユニットを作るさまざまな自動スキャン技術と機能を提供しています。このマシンには、広い視野、高感度の光電センサー、専用ソフトウェア、機能認識アルゴリズムを備えた水晶レンズが含まれています。統合されたレーザー検出器とさまざまな光学構成は、検査されたコンポーネントの正確かつ正確な分析を保証するのに役立ちます。また、新たに設計されたIllumination Delivery Assetも備えており、照明面での絶対的な柔軟性と8x8〜150x150 mmの範囲で調整可能なパターンサイズを提供します。これにより、異なる照明源を切り替えることができ、より大きなコンポーネントを分析することができます。NANOMETRICS Spark-300モデルは、作業パラメータの決定（例えば、層の厚さ、回路パターン形状、サイズなど）、デジタル画像比較、再作業分析など、いくつかの分析機能を提供します。この機器は、ユーザーフレンドリーでインタラクティブなグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）で動作します。GUIを使用すると、モノクロ画像とバイナリ画像を表示し、レイヤーの厚さを測定し、パラメータをリアルタイムで分析できます。グラフィカルユーザーインターフェイスにより、簡単で効率的なデータ取得と分析が可能です。システムの性能をさらに向上させるオプションの検査キットが用意されています。このキットには、サンプルターゲットボードと試験片だけでなく、より詳細なテストと分析のためのデータ処理分析アプリケーションも含まれています。要約すると、Spark-300マスクおよびウェーハ検査ユニットは、最新の半導体生産プロセスにおける自動計測分析のための優れた精度と精度を提供します。このマシンには最新のスキャンおよび検査技術が搭載されており、革新的な照明と光学構成によりパフォーマンスを向上させています。このツールは使いやすく費用対効果が高いため、自動検査および分析作業に最適です。