中古 NANOMETRICS NanoSpec AFT #9397749 を販売中

ナノメトリクスNanoSpec AFTは、半導体マスクとウェーハの重要なパラメータを測定するために特別に設計された先進的な光学検査装置（OIS）です。NANOMETRICS NANOSPEC/AFTは、非接触イメージングシステムを使用して、半導体表面の欠陥および非均一性を迅速かつ正確に検出します。ダイレクトイメージセンサーイメージング構成により、解像度と感度を向上させ、迅速かつ正確な故障検出を可能にします。フレキシブルかつモジュラーユニットは、高解像度レンズ、モーター付きXYスキャンステージ、サブミクロン動作機能用のマイクロマニピュレータなど、さまざまなコンポーネントで構成されています。また、高度な光学系と自動化されたフォーカスを組み込んで、測定の最大限の均一性と精度を確保します。NanoSpec AFTのソフトウェアコントロールの人間工学的ワークステーションは、直感的な操作と幅広い解析および欠陥検出機能を備えています。NANOSPEC/AFTツールは、特定のアプリケーションのニーズに合わせて設定できます。このアセットは、粒度、層厚、界面位置、エッチング速度と均一性、表面欠陥検出など、幅広い測定を行うことができます。多種多様な半導体材料での使用に適しており、最大直径200mmまでのマスクやウエハのサイズや形状を検査することができます。堅牢で高精度なナノメトリクスNanoSpec AFTは、高精度で信頼性の高い測定精度を提供し、ユーザーは半導体プロセスの重要な領域について貴重な洞察を得ることができます。装置の信頼性と正確な測定により、製造異常のリスクを検出し、最小限に抑えることができます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアと簡単にフォローできるセットアッププロセスにより、迅速で信頼性の高いパフォーマンスを実現し、プロセス制御を改善し、時間とコストの両方を節約できます。NANOMETRICS NANOSPEC/AFTシステムの低コスト、その構成性、およびその汎用性により、歩留まり損失を低減するチップメーカーに最適です。このユニットは、幅広い半導体の設計や材料を処理することができ、要件固有のアプリケーションを満たすために簡単に適応することができます。機械の柔軟性と構成性は、生産ラインで最大限の制御と精度を要求するチップメーカーにとっても理想的な選択肢です。