中古 NANOMETRICS NanoSpec AFT #293615480 を販売中

NANOMETRICS NanoSpec AFT （Advanced Feature Technology） by NANOMETRICSは、高度な機能と特殊半導体の検査に使用される最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、インテリジェントな欠陥組織を備えた2Dおよび3Dイメージングの広い視野で、より高い精度と精度を提供します。NANOMETRICS NANOSPEC/AFTには独自のSmart Feature Scan （SFS；スマートフィーチャースキャン）機能があり、画像のシャープネスが向上し、画像のシフトが不透明な特徴を解析することができます。このユニットには、バックグラウンドノイズと誤報を低減するための低バックグラウンドオプティカルプラテンも含まれています。NanoSpec AFTの光学設計により、明暗レベル、コントラストしきい値、焦点調整速度などの検査パラメータを柔軟に調整できます。また、複数のダイツダイ（D2D）モードを備えており、ユーザーはウェーハ全体の各ダイで重要な欠陥検出、分類、計測を行うことができます。このツールは、既存の生産ラインに簡単に統合でき、最大のスクリーニング効率を確保するための完全な自動化サポートを提供します。また、非導電性フィーチャーコントラストで検出できるほど大きな複雑な欠陥を識別することもできます。NANOSPEC/AFTは、光学顕微鏡や走査型電子顕微鏡を用いて検出が困難なウェーハ欠陥（モザイクやソーイング欠陥、小型ピット、傷など）を解析するために設計されています。このアセットは高解像度で再現性があり、通常見つけることが困難な微小な特徴や欠陥を検出するのに非常に効果的です。さらに、ダイレベルの欠陥を容易に観察し、検査するための内蔵顕微鏡も含まれています。NANOMETRICS NanoSpec AFTの柔軟性と効率性により、ユーザーは一貫した品質で信頼性の高い検査結果を得ることができます。革新的な設計により、プロセスの稼働時間を最大化し、検査スループットを最大化し、生産効率を向上させます。このモデルは、最小限のコストと手間で高度な機能と特殊な半導体検査に最適です。