中古 NANOMETRICS NanoSpec AFT 3000 #293587042 を販売中
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ID: 293587042
Film thickness measurement system, 5"
Thickness range: 200 Angstroms - 35 Microns.
ナノメトリクスNanoSpec AFT 3000は、半導体用に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。バックサイドイメージング、斬新なレンズベースのアレイ、自動化された測定・解析機能を備えています。このシステムはAFT 2000シリーズからのアップグレードであり、品質を損なうことなく、より高い解像度と高速なイメージングを提供します。NanoSpec AFT 3000は、バックサイドイメージングを使用してウェーハを検査し、比類のない精度と効率を実現します。独自のウエハ保持ユニットを搭載しており、イメージング時のウエハの動きをしっかり制御できます。これにより、欠陥、損傷、汚染の可能性が低減され、高感度のイメージングが可能になります。AFT 3000は、高度なレンズアレイにより優れた画質を提供します。このマシンは、2つの相互排他的な歪みのないレンズを使用し、200 'nmまでの鮮明な画像を提供します。また、ノイズ除去ツールと高度な光学系を改良し、毎回シャープで均一な画像を確保する高い信号対ノイズ比を実現しています。このアセットは、半導体ウェーハおよびマスク測定タスクを自動化するように設計されています。タッチベースのインターフェースを利用して、エンジニアは画像を素早く簡単に測定、保存、分析することができます。さらに、高度な画像処理機能により、ボタンを押すだけで高速で正確な測定が可能です。AFT 3000が提供するナノメートル分解能と高速イメージング機能により、プロセス制御の効率を最大限に高めます。その優れたイメージング品質により、最高品質のウェーハのみが製造されます。これは、廃棄物を削減し、潜在的な高価な欠陥を回避するのに役立ちます。ナノメトリクスNanoSpec AFT 3000は、半導体アプリケーション向けの優れた検査モデルです。高解像度イメージング、自動化された測定と分析、優れた光学系は、エンジニアや生産スタッフにとって貴重なツールです。高速イメージングと自動化機能により、あらゆる半導体アプリケーションに最適です。
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