中古 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9086405 を販売中

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210マスク&ウェーハ検査装置NANOMETRICSは、重要な電子デバイスの非破壊検査のために設計された高度な計測機器です。超高解像度イメージングユニットと走査型電子顕微鏡（SEM）を搭載し、高速で正確なイメージングを実現します。独自のオートフォーカス技術により、優れた精度と再現性を備えた超高速画像を実現しています。また、高速マッピング機能を備え、幅広い材料の迅速なイメージング、分析、診断を可能にします。このツールの自動処理アセットには、自動化された8点オートフォーカスのアライメントプロセス、精密制御されたウェハステージ、およびパターン認識ソフトウェアが含まれます。このモデルを使用すると、オペレータは最小限の労力でイメージングパラメータを簡単に指定および調整できます。高感度オートフォーカス技術は、正確な画像アライメントを保証し、その走査型電子顕微鏡光学は、最高の精度で最高の解像度を提供します。NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210は、領域欠陥マッピングや明るいフィールド/暗いフィールド解析など、さまざまな画像および分析機能もサポートしています。この機器は、分析のための欠陥を分離して表示するための画像セグメンテーションのオプションの配列を可能にします。さらに、スナップショットのキャリブレーションと自動マスクアライメントにも対応しています。NanoSpec AFT 210には強力なソフトウェアパッケージもあります。そのソフトウェアスイートには、統計分析やプロセス最適化のための組み込みスクリプトなどの測定および分析ツールが統合されています。これらのツールは、画像から詳細な計測情報を抽出することができます。また、強力なネットワーク接続機能を備えており、リアルタイムで結果を共有できます。全体として、NANOSPEC/AFT 210は強力で経済的で、マスクとウェーハ検査システムを簡単に使用できます。自動化された8点オートフォーカス配置、高感度顕微鏡光学、エリア欠陥マッピング機能など、高度な計測機能を提供します。また、幅広い測定および分析ツールを備えた堅牢なソフトウェアスイートを備えています。それは製造業および計量学の専門家のための理想的な選択です。