中古 NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE #9096765 を販売中

NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSEは、多数の高精度タスクを可能にする最先端のマスク&ウェーハ検査装置です。様々な集積回路（IC）コンポーネントの金属層、金属面、接触ビア、およびオーバーラップ境界を正確に測定するために使用できます。このシステムは、ナノメートルレベルのスケールで測定する非常に小さな光学部品を使用しています。これらのコンポーネントは、ICコンポーネントの非常に正確な測定を可能にし、利用可能な最も正確な測定を提供します。NANOMETRICS NANOSPEC 8000X SEは、強力な顕微鏡により、非常に高解像度でリアルタイムにイメージングすることができます。これにより、より高い精度で画像をレンダリングすることができ、数多くのサンプル表面をわずか数秒で高精度に比較することができます。また、強力なアルゴリズムを使用して微細な表面の特徴をすばやく特定し、サンプルの異常な変動や欠陥を検出することができます。NANOSPEC 8000 XSEの他の機能には、カスタマイズ可能な光学ステージ、ソフトウェア制御のオートフォーカス、および自動化されたアライメントがあります。光学ステージは、多数の角度と高さを介して動作することができ、サンプルのさまざまな部分を非常に正確に測定することができます。ソフトウェア制御のオートフォーカスは、可能な限り最も詳細な測定を得るために、非常に正確な焦点調整を可能にします。自動化されたアライメントマシンは、最適なイメージングのために顕微鏡の下にサンプルを正確に配置することもできます。NANOSPEC 8000XSEには直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスがあり、ユーザーは自分のニーズに最も適したワークフローを簡単に作成できます。これには、幅広いサンプルタイプとパラメータを備えた高度な光学イメージングライブラリが含まれており、このツールはあらゆる種類のICコンポーネントを正確に測定および評価することができます。その特徴と機能を考えると、NANOSPEC 8000X SEが最も信頼性が高く正確なマスクおよびウェーハ検査システムの1つである理由を理解するのは簡単です。その精度と高度なソフトウェアにより、優れた測定を提供し、集積回路が適切に機能することを保証するのに役立ちます。これは、ICやその他の技術的に高度なコンポーネントを扱う企業にとって不可欠なツールです。