中古 NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #83529 を販売中

NANOMETRICS NANOLINE CD 50は、半導体デバイスおよび部品の品質管理および分析を提供するために設計された最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。ウエハマスクパターン、I/Oパターン、3D構造、小型デバイスフィラメントなど、さまざまなコンポーネントを検査することができます。NANOLINE CD 50は、標準の検査システムよりも正確にウェハーマスクの構造の欠陥を検出するように設計されており、品質管理、歩留まりの向上、プロセス工程の短縮を可能にします。NANOMETRICS NANOLINE CD 50の中心には、高解像度で明るいダークフィールドスキャナがあり、さまざまな画像キャプチャ技術を可能にします。このユニットは短波長と長波長照射の両方に最適化されており、比類のない柔軟性を提供します。NANOLINE CD 50は、使い慣れた使いやすい直感的なユーザーインターフェイスを備えています。ソフトウェアパッケージは、さまざまな形式で在庫追跡と品質保証情報を提供し、高スループット、半自動の生産プロセスに最適なツールです。さらに、NANOMETRICS NANOLINE CD 50は、計測およびプロセス制御機能の範囲を提供します。これには、イメージパターンおよびオーバーレイ測定のオーバーレイ計測機能、ならびに高速かつ正確な漏れ電流、誘電体の故障、静電容量およびインピーダンス測定機能が含まれます。このマシンは、欠陥診断、欠陥分類、アライメントツールの完全なスイートも備えており、単一の強力なデバイスで故障解析とプロセス監視の両方を可能にします。NANOLINE CD 50は、過酷な環境に耐えるように構築されており、ツールと監視しているプロセスの両方の信頼性の高い動作を保証し、全体的な欠陥を低減するのに役立ちます。頑丈な設計は、機械的および塵の両方の汚染物質からの優れた保護だけでなく、いくつかの化学的暴露からの長寿命を可能にします。最後に、NANOMETRICS NANOLINE CD 50には、資産の柔軟性を拡張するためのオプションとアクセサリの配列が付属しています。これには、さまざまなフィルタ、通信送信、顕微鏡、プローブが含まれており、真に汎用性の高いモデルとなっています。究極の汎用性と信頼性を必要とする人にとって、NANOLINE CD 50は理想的な選択です。