中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8 #122833 を販売中

NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8
ID: 122833
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 1998
Overlay metrology tools, 8" KENSINGTON X,Y,Z Stage Digital tape drive and 3 1/4 floppy drive (2) MITSUBISHI Diamond scan monitors UNIX Operating system Objectives: 4X, 30X, 70X Xenon lamp SECS / GEM Interface Ethernet connection 1998 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8マスク&ウェーハ検査装置は、高精度イメージングと高度なソフトウェアベースの欠陥解析およびドキュメントを組み合わせた包括的なマスクおよびウェーハ検査システムです。半導体製造プロセスで使用されるフォトマスクの迅速かつ効率的な検査を容易にするように設計されたACCENT Q7/Q8は、クラス最高の性能と信頼性を提供します。このユニットはデジタル検査顕微鏡を備えており、最大2000Xの調整可能な倍率とフォーカス機能を備えた優れたイメージングおよび照明機能を提供します。この高度なイメージング技術は、粒子欠陥、金型欠陥、ライン欠陥など、幅広いIC欠陥を認識できる高度なソフトウェア定義欠陥検出機と組み合わされています。リアルタイムハードプロセッサユニットと専用メモリを備えたBIO-RAD Q7/Q8は、光と電子ビームイメージングアプリケーションの両方に優れた速度と精度を提供します。NANOMETRICS Q7/Q8は、包括的なカバレッジのための自動ウェーハステッチ、正確な欠陥認識のための包括的な欠陥検査ライブラリ、高度なマスクの可視化と編集ツールなど、さまざまな自動検査機能を提供します。このツールはまた、粒子欠陥分類、モジュール欠陥チェック、パラメトリック欠陥解析、オプションの高度なフラットパネル検査オプションなど、業界をリードする自動欠陥検出および分析ツールをサポートしています。Q7/Q8はACCENT Aleris Semiconductor Quality Control Assetとシームレスに統合されているため、欠陥レビュープロセスを完全に自動化できます。Aleris Semiconductorは、完全に統合された欠陥レビューフレームワークを提供し、NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8モデルによってウェーハに含まれる重大な欠陥の迅速なレビュー、分析、レポートを可能にします。ACCENT Q7/Q8は、Alerisプラットフォームに統合することで、検査対象のすべてのマスクとウェーハデータを簡単に確認できます。全体として、BIO-RAD Q7/Q8マスク&ウェーハ検査装置は、半導体業界のマスクおよびウェーハ検査に優れた性能と信頼性を提供します。高度なイメージングおよび検出機能と、Aleris Semiconductor Quality Control Systemへの容易な統合により、マスクの品質に対する信頼性が高まり、重要な欠陥が迅速に配置およびレビューされるようになります。
まだレビューはありません