中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q5 #106305 を販売中

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q5マスクおよびウェーハ検査装置は、半導体および光電子デバイスメーカーが自信を持って製品を検査するための高精度で効率的なツールです。このシステムは、独自のスキャン共焦点光学ヘッドと高度なソフトウェアアルゴリズムに基づいており、感光光検出器、LEDウェーハ、III-Vウェーハ、マイクロミラー、ウェーハバンパーなど、さまざまなデバイスの種類と材料を検査することができます。このユニットは、各デバイスの高解像度および低解像度の画像を提供し、低解像度の画像は、意図された接触領域およびその他のナノスケールの表面機能の詳細なビューを提供します。オプティカルフィードバックコンフォーカル（OFC）とビームスキャンモードの4つのレーザーチャンネルを使用して、非常に正確で非破壊的な3Dイメージングを可能にします。これにより、機械はナノスケールの特徴と表面欠陥を正確にキャプチャすることができ、デバイスの品質に疑問を抱くことはありません。このツールはまた、低照度の環境を備えており、UVと白色の照明で、生産中のデバイスを検査することができます。高速スキャンレートを備え、1時間あたり最大1,500個のウェーハを処理でき、3ミクロンの欠陥を検出することができます。さらに、ACENT Q5 MaskとWafer Inspection Assetは、欠陥後の分析とオンライン欠陥レビューのための直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。これにより、リアルタイムで欠陥を確認、診断、特定し、欠陥が失われたり見落とされたりしないようにすることができます。さらに、このモデルは高度な分析とデータレポート機能を提供し、体系的な欠陥や傾向を検出して報告することができます。また、継続的なアーカイブとすべての品質データへのアクセスのためのさまざまなデータストレージオプションも提供しており、今日の規制要件をサポートしています。全体として、BIO-RAD Q5マスクおよびウェーハ検査装置は、半導体およびオプトエレクトロニクスデバイスのメーカーに信頼性が高く、正確で迅速な品質検査ソリューションを提供します。そのスキャン共焦点光学ヘッド、高度なソフトウェアアルゴリズムと低光度環境は、ユーザーが非破壊的な方法でデバイスを検査することができ、品質の問題が見逃されないようにします。最後に、優れたデータレポート機能により、ユーザーは不具合をリアルタイムでレビュー、診断、識別し、品質データをアーカイブに保存して永続的にアクセスできます。