中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT PD7440/00 #293639724 を販売中

ACCENT PD7440/00 Mask&Wafer Inspection Equipmentは、プロセスに不可欠な半導体デバイスの製造に使用される基板ウェーハおよびマスクの微細な検査および欠陥分析のための費用対効果の高い自動化プラットフォームです。この高度な検査システムは、高品質のデジタルイメージングユニットを備えており、確実に正確な検査と画像のキャプチャを可能にします。このマシンには、5ミクロンまたは10ミクロンの解像度のデジタルカメラと交換可能なレンズの焦点距離のセットが装備されています。小型（200um以下）、中型（201-800um）、大型（800um以上）までの大型チップサイズの検査を容易にします。さらに、この検査ツールには、光学顕微鏡7X、 1Xから5Xまでの5つの拡大オプション、および薄型の光学レーザーアライメントアセットが含まれており、分析のための正確な位置決めを提供します。4 インチカラーLCDモニターと直感的で使いやすいWindowsベースのPCコントロールインターフェイスにより、画像の表示、キャプチャ、分析が便利です。さらに、BIO-RAD PD7440/00 Mask&Wafer Inspection Modelは、多数の専用ソフトウェアおよびハードウェアコンポーネントと組み合わされているため、半導体アプリケーションに最適です。ソフトウェア機能には、電子ビームリソグラフィー（EBL）シミュレーション、CADプログラミング、ディスプレイデザイナー、フレキシブルマッピングなどがあります。この包括的な機能のコレクションにより、ユーザーはイメージされるターゲットに固有のパターンを簡単にプログラム、分析、および設計することができます。また、自動ウェーハアラーム比較システムを備えており、検査対象のウェーハのリアルタイム画像と、理想的なウェーハの「ゴールデン」画像を比較して、欠陥をすばやく検出します。その結果、欠陥をより簡単かつ迅速に識別することができ、検査時間を短縮し、潜在的な欠陥製品を回避することができます。性能面では、NANOMETRICS PD7440/00は、最大40,000 RPMの速度で基板ウエハを検査することができ、不良部をすばやく見つけて特定することができます。このユニットは高速データ転送機能を備えているため、複数のサイトでの動的パフォーマンスに適しています。全体として、NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT PD7440/00 Mask&Wafer Inspection Machineは信頼性の高いオートメーションプラットフォームで、重要な半導体デバイス製造プロセスに使用されるウェーハおよびマスクの汎用性と費用対効果の高い検査機能を提供します。高度なイメージング機能と汎用性の高いハードウェアおよびソフトウェア機能を組み合わせることで、幅広い半導体アプリケーションに理想的なプラットフォームを提供します。