中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CALIPER Q300 #9298694 を販売中

NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CALIPER Q300
ID: 9298694
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2002
Overlay measurement system, 12" 2002 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CALIPER Q300は、ウェーハおよびサブミクロンレベルの検査タスク用に設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。Q300は、高度な光学技術と、製造工程で半導体部品を検査するための最適化されたプラットフォームを作成するソフトウェアとエレクトロニクスを備えています。Q300システムは、ハイエンドの光学機能を使用して、フルチップマスク層とハーフマスク層からその間のさまざまなタイプとサイズまで、さまざまな種類のウェーハとマスクを検査します。内蔵された光学ユニットには、強力なレーザーダイオードと表面検査用の光学ズーム、およびマスクやウェーハのさまざまな表面特性を検査するためのサブミクロン顕微鏡が含まれています。このマシンはまた、フルチップ分析と検査時間の短縮のための自動化された機能を提供します。多層計測機能もツールに組み込まれており、1つの測定で複数のレベルの層の高さと表面粗さを測定することができます。3Dスキャン顕微鏡などの高度なツールを使用して、アセットは、リソグラフィーマスクの動作を様々な真のシナリオで分析することができます。Q300の自動制御により、ウェーハおよびマスク検査のスループットが向上します。高速スキャンおよびスキャンパラメータはユーザー定義の設定に合わせて調整できますが、電動ステージの制御により、検査された部品の正確なアライメントとサンプリングが可能です。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、モデルの簡単なプログラミングが可能です。ACCENT CALIPER Q300は、半導体およびチップ製造時に使用するための信頼性が高く、効率的で正確な検査機能を提供します。高度な光学およびオートメーションコントロールにより、正確で品質の結果を保証します。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、プログラミングが簡素化され、検査プロセスの制御が強化されます。専用の強力なレーザーダイオードと光学ズームを使用して、ウェーハとマスクの両方の表面を検査し、単一の測定で多層計測を行うことができます。これらの機能を組み合わせることで、Q300は高品質のマスクとウェーハ検査に最適なソリューションです。
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