中古 NANOMETRICS AFT 4000 #44869 を販売中

ID: 44869
Measurement system Standard Film Types Measured Single Layer Films: Visible 500-50,000A; UV 25-500A Double Layer Films: Visible Top Layer 100-30,000A; Bottom Layer 100-10,000A Single Layer Thick Films: Visible 4-75 microns Reflectance: Visible 400-850nm Oxide on Poly: UV 150-10,000A Oxide on Metal: Visable 3,000-20,000A; UV 500-5,000 A.
NANOMETRICS AFT 4000は、プリント基板(PCB)などの不透明基板の形状と寸法の信頼性、正確性、再現性の高い測定を提供するために設計されたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムには、完全に自動化された光学および機械的スキャンステージ、高度なテレセントリック光学ユニット、および幅広い測定および分析ソフトウェアツールが含まれています。AFT 4000は、高解像度イメージングを利用して光場と暗場の両方の画像を利用し、15nmと75nmの解像度で特徴を測定することができます。スキャンステージには最適化された光学系が装備されており、異なるフィーチャーサイズと形状の効率的なイメージングと再現可能な測定が可能です。オプションのロボットアームにより、手動および自動サンプル操作が可能です。NANOMETRICS AFT 4000は、散乱計測や蛍光イメージングなどのさまざまな高度な技術を使用して、対象物質の詳細な表現をキャプチャします。AFT 4000は、フィーチャーエッジ、サイドウォール、ステップ高さ、プロファイル、平坦度の測定も可能です。さらに、機械は自動精密測定のための信号処理システムと接続することができます。NANOMETRICS AFT 4000に統合されたデータ解析ソフトウェアパッケージには、3Dジオメトリモデルを生成し、CADまたは測定システムのデータをエクスポートする機能が含まれます。このソフトウェアはまた、カスタマイズ可能なレポートを提供し、結果を明確に表示するための表と画像、および複数のスキャンからのデータを比較する機能を備えています。ツールの全体的な設計は、エラーを最小限に抑え、繰り返し可能な結果を生み出すことに焦点を当てています。AFT 4000は、正確な物理測定と堅牢なデータ分析を確実に行うため、ラボ、エンジニア、科学研究者にとって理想的な選択肢です。このアセットにより、オペレータは貴重なデータポイントを迅速に取得し、さまざまな基板上でさまざまな高度な画像やモデルを生成することができます。NANOMETRICS AFT 4000は、直感的なユーザーインターフェイス、高度な測定機能、優れた精度により、マスクやウェーハ基板の詳細な解析に最適です。
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