中古 METRICON PC 2010 #9245359 を販売中

METRICON PC 2010は、ドイツのMETRICON社が開発したマスク・ウェハ検査装置です。レチクル、ウェーハなどのフラットマスクの高精度検査に使用できるように設計されており、汚染、ピンホール、空隙、汚れ、破片などの細かい欠陥を検出することができます。高い解像度とコントラストを持つ先進的な光学機器を搭載し、優れたイメージング性能を発揮します。ツールに使用されるLED光源は、優れた精度で均一で安定した照明を提供します。内蔵のモニターは使いやすいグラフィカルインターフェイスを備えており、マルチリフレクション検出により高効率と生産性を実現します。METRICON PC-2010は、データ分析用のさまざまなソフトウェアプログラムと互換性があります。これらのプログラムは、汚れやほこりの粒子、傷、汚染、ピンホール、空隙、汚れ、フレーク、厚さや外観の不規則性など、さまざまな欠陥タイプを検出することができます。アセットは、アライメントマークのずれをチェックすることもできます。PC 2010には、電気、機械、およびモーションコントロールのさまざまな機能が搭載されているため、高速で正確なスキャンに適しています。このモデルは、オペレータの疲労を軽減し、効率を向上させるように設計されています。また、結果を処理および評価するための標準シグナリングロジックもサポートしています。この装置は、色度座標値の測定、スポットメータースキャン、高度なパターン認識、またはロボット工学で使用するための特別なデータ出力などの新機能に拡張することができます。さらに、PC-2010は手動または自動ソートシステムで使用できます。このシステムは、科学的課題と産業的課題の両方に適しています。マスクの光学特性に関する情報を提供するだけでなく、半導体デバイスの品質や粒子の汚染に関する結果を提供することができます。また、詳細な画像解析の可能性を提供し、さらなるユニット設計の基礎として使用することができます。