中古 METRICON PC 2010 #9244730 を販売中

ID: 9244730
ヴィンテージ: 2000
Prism coupler Wafer measurement: Refractive index Thickness: Thin films layer stack Dual film measurements Localization of modes in waveguides Measurable refractive index: 2.45 Operating wavelength: 632.8 nm, 1320 nm & 1554 nm 2000 vintage.
METRICON PC 2010は、高解像度のリソグラフィ画像を検査するために設計された自動マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、ウェーハをスキャンする際に、異常などの欠陥をほぼリアルタイムで検出することができます。PC版は、その低コストと迅速にさまざまな欠陥を検出する能力のために、シリーズで最も人気があります。PC版では、メトリクスベースのスキャンソフトウェアを使用して、高速でウェーハの画像をキャプチャします。これらの画像は3ミクロンで撮影され、最小の異常を識別することができます。ソフトウェアはまた、正確な結果を確保するために配置されている環境を考慮に入れます。このマシンは、傷、ピット、バンプ、異物など、さまざまなウェーハ欠陥を検出することができます。また、低電圧信号を検出することができ、チップ障害の原因となる可能性のある問題を検出することができます。高速かつ高精度であることに加え、低消費電力を特長としています。これにより、運用コストを削減しながら、モデルを中断することなく継続的に実行できるようになります。装置は非常に信頼性が高く、長期的な性能を発揮するように設計されています。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、ユーザーの初心者でも時間をかけすぎずにシステムにすばやく慣れることができます。このユニットは、他のさまざまな業界標準技術およびソフトウェアパッケージと互換性があるように設計されており、アクセシビリティが向上し、統合が容易になります。全体として、METRICON PC-2010は高度なリソグラフィ画像の検査に不可欠なツールであり、迅速かつ正確な結果を提供します。低コストで高性能なマスクやウェーハ検査の業界標準となっています。
まだレビューはありません