中古 METRICON PC 2010 #9112670 を販売中

METRICON PC 2010は、特許技術を使用して半導体業界のマスクやウェーハを検査するマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、レーザー干渉計とデジタルイメージングを使用して、従来の検査システムのほんの一部の時間で正確で信頼性の高い結果を提供する直接検査ユニットです。METRICON PC-2010は、マスクまたはウェーハ全体をわずか数分で処理できる効率的で完全自動化された検査機であり、手動検査の時間、コスト、複雑さを大幅に削減します。このツールは、0。3ミクロンの解像度で、マスクとウェーハの典型的な欠陥の3分の1未満のサイズのマスクとウェーハの小さな欠陥を検出することができます。高度なレーザー技術と高解像度のデジタルイメージングを組み合わせて、マスクまたはウェーハの各表面を1ピクセルまで検査します。これにより、傷、ピット、バンプ、およびその他の不規則性を含む表面の特徴を検出および分類することができます。また、独自のソフトウェアを使用して画像データを迅速かつ正確に処理し、従来の検査システムの最大10倍の速度で欠陥を検出することができます。ソフトウェアには、欠陥の手動解析の必要性を最小限に抑える自動欠陥認識および分類機能もあります。また、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスや幅広いデータ出力フォーマットなど、ユーザーフレンドリーな機能を備えており、ユーザーは結果の表示をカスタマイズできます。PC 2010は、その効率と精度に加えて、使いやすさと最小限のメンテナンスのために設計されています。セットアップに特別なツールは必要なく、操作は簡単で直感的です。この機器には、欠陥を迅速かつ正確に分類するために使用できるテストパターンの組み込みライブラリも含まれています。結論として、PC-2010は強力で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査システムであり、大量のマスクおよびウェーハを効率的かつ費用対効果の高い方法で処理できます。METRICON PC 2010は、高度なレーザーおよびデジタルイメージング技術、高解像度検出、直感的なグラフィカルユーザーインターフェースを備え、半導体業界のマスクやウェーハの検査に最適なユニットです。