中古 METRICON PC 2010 #9112668 を販売中

METRICON PC 2010は、半導体集積回路（IC）デバイスの製造用に設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、チップ製造工程におけるICマスクおよびウェーハの完全性を検査するための自動ソリューションを提供します。このユニットは、顕微鏡にカメラを取り付けたコンピュータで構成されています。この顕微鏡は、ユーザーが最大5000xまでウェーハとマスクを拡大することができ、カメラはIC構造の撮影に使用されます。このマシンには、ウェーハとマスクが業界標準を満たしていることを保証するIC構造の自動測定に使用できる一連のソフトウェアも含まれています。ツールは、次のタスクを実行することができます：マスク上のパターンを識別します。ウェーハの欠陥を検出します。不一致によって引き起こされるエラーパターンを検出して下さい；フィーチャーのサイズを測定します。ウェーハフォームのバリエーションを測定します。オーバーレイシフトと登録を測定します。断面積を測定します。そしてライン抵抗を測定して下さい。METRICON PC-2010には、同じ検査中に1つのチップ上の複数のポイントからデータを収集できる包括的なデータ取得アセットも付属しています。これにより、製造工程を観察する際に、より高い精度と精度を得ることができます。このモデルはまた、チップ生産プロセスをよりよく理解するための統計データ分析を提供します。PC 2010装置は非常に信頼でき、使いやすいように設計されています。また、精度と再現性を向上させるために校正することもできます。このシステムは、顕微鏡の自動制御を提供し、ICチップの迅速かつ正確な検査を可能にします。高精度、高速、包括的なデータ取得能力を備えたPC-2010ユニットは、半導体デバイスメーカーにとって非常に有用なツールであり、チップ生産に伴う時間とコストを大幅に削減し、製品が最高品質であることを保証します。