中古 MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9124645 を販売中

MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR
ID: 9124645
ウェーハサイズ: 8"
Wafer inspection system, 8".
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIRは、1つの使いやすいプラットフォームから高度で非破壊的なウェーハおよびマスク検査機能を提供するマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、複雑なカラーフィルターアレイ、透明導電性酸化物、多層バックプレーンなど、イメージングデバイスの効率的で信頼性の高い特性評価用に設計されています。DDR-300 NIRは、高精細ダイレクトイメージングおよびスペックルイメージングアルゴリズムを使用して、正確で信頼性の高い性能を提供します。このプラットフォームには、高解像度オプトエレクトロニクス、UV-Vis-NIR検出器、および独自の高速データ処理機能を備えた高速カメラが装備されています。また、多次元顕微鏡を搭載しており、ラフかつファインフォーカススキャンが可能です。高度な強度機能により、MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIRはウェーハおよびマスクの欠陥を確実に検出および測定することができ、材料の信頼性の高いダイ領域を迅速に特定できます。一方、機械の高度なチップセットコンピューティング機能により、マスクおよびウェハ製造プロセスの監視に最適です。高度なソフトウェアアルゴリズムにより、DDR-300 NIRはさらに高い精度と効率の欠陥を検出することができます。また、ウエハやマスクの輪郭を正確に描画するための低照度のイメージングツールと、パターン化された黄色材料や複雑なバックプレーン構造の詳細な検査とマッピングのための高ダイナミックレンジのイメージング資産を誇っています。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIRはセットアップも簡単で、メンテナンスも最小限に抑えられているため、忙しい製造および研究施設に最適です。さらに、プラットフォームは、お客様の既存の測定装置またはオートメーション機器と統合して、プロセスチェーン全体にわたるデータ収集を容易にすることができます。高度な機能と信頼性の高い性能を備えたDDR-300 NIRは、正確なウェーハおよびマスク検査に最適なツールです。
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