中古 MATSUSHITA PSX307-M #9394953 を販売中

MATSUSHITA PSX307-Mマスク・ウェーハ検査装置は、半導体マスクや大型ウェーハの欠陥検査を行う先進的な高性能システムです。本装置は、先進の光学二重ピラミッドデフレクトメトリー（DOE）技術を活用して、各半導体デバイスの形状や表面を正確に測定し、重大な欠陥や正確な位置を検出することができます。検査されたウェーハやマスクの画像キャプチャ用の機内高解像度カメラを内蔵し、優れた画像処理機能により細部まで検査できます。また、高度な3次元光学センシング技術（3D&OS）を活用して、総合的な欠陥検出と測定を行います。この高度なアセットにより、ウェーハやマスクの小さな欠陥を検出し、表面形状や高さなどの物理的特性を正確に測定することができます。このデータは、正確な品質管理を確保するために、デバイスのサイズと形状を測定するために使用することができます。PSX307-Mは、3D&OSモデルと一体化した自動アライメント機能を内蔵し、精密な欠陥検査を可能にしています。このオートアライメント機能により、大きなウェハでも微細な欠陥を高精度で検出できます。さらに、高効率欠損検査のためのリアルタイム欠陥除去を行う高度な画像解析ツール（MATMESH）を搭載しています。MATSUSHITA PSX307-Mでは、使いやすいメニューや操作が簡単に行える機能も充実しています。手動操作モードと自動操作モードを搭載し、ユーザーのニーズに合わせた操作が可能です。さらに、さまざまなプログラミング言語のサポートにより、ユーザーは特定のニーズに合わせたカスタム検査プログラムを開発することができます。要約すると、PSX307-Mマスク&ウェーハ検査ユニットは、半導体マスクや大型ウェーハの欠陥検査を行うための高度で高性能な機械です。高度な光学・立体センシング技術を活用し、微細な欠陥を高精度で検出することが可能です。また、オートアライメントや画像解析機能を内蔵し、運用効率をさらに高めることができます。マスクやウエハーの自動検査には、様々な使い勝手の良いメニューと機能を備えたMATSUSHITA PSX307-Mが最適です。